SiCパワーデバイスの現状と課題、高温対応実装技術【提携セミナー】
開催日時 | 【Live配信(アーカイブ配信付き)】 2024/12/23(月) 13:00~16:30 |
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担当講師 | 岩室 憲幸 氏 |
開催場所 | 【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。 |
定員 | - |
受講費 | 通常申込:本体45,000円+税4,500円 E-Mail案内登録価格:本体42,700円+税4,270円 |
SiCパワーデバイスの現状と課題、
高温対応実装技術
■パワー半導体デバイス/パッケージの最新技術動向■
■Si-IGBTの強み、SiCパワーデバイスの特長と課題。市場予測■
■シリコンIGBT、SiCデバイス実装技術、SiCデバイス特有の設計、プロセス技術■
【提携セミナー】
主催:サイエンス&テクノロジー株式会社
受講可能な形式:【Live配信(アーカイブ配信付)】のみ
★ アーカイブ配信のみの受講もOKです。
★ 自動車の電動化(xEV)へシリコンIGBTをいかに凌駕していくか!
★ 半導体素子や実装技術、市場予測を含め、わかりやすくかつ丁寧に解説します。
セミナー趣旨
2024年現在、世界各国は自動車の電動化(xEV)開発に向け大きく進展している。そしてこのxEV化はもはや大きな潮流となった。xEVの性能を決める基幹部品であるパワーデバイスでは、新材料SiCデバイスの普及が大いに期待されており、すでにxEVへの搭載も始まっている。今後はシリコンIGBTをいかに凌駕していくかに注目が集まっている。
そこでポイントとなるのが、新材料SiCデバイスの性能、信頼性、さらには価格が市場の要求にどう応えていくかであると思われる。最強の競争相手であるシリコンIGBTからSiC開発技術の現状と今後の動向について、半導体素子や実装技術、さらには市場予測を含め、わかりやすく、かつ丁寧に解説する。
<得られる知識・技術>
- パワー半導体デバイスならびにパッケージの最新技術動向。
- Si-IGBTの強み、SiCパワーデバイスの特長と課題。
- パワー半導体デバイスならびにSiC市場予測。
- シリコンIGBT、SiCデバイス実装技術。
- SiCデバイス特有の設計、プロセス技術、など。
担当講師
筑波大学 数理物質系 教授 岩室 憲幸 氏
<経歴>
1984年早稲田大学理工学部卒、1998年 博士(工学)(早稲田大学)
富士電機株式会社に入社。
1988年から現在までパワーデバイスシミュレーション技術、IGBT、ならびにWBGデバイス研究、開発、製品化に従事
1992年 North Carolina State Univ. Visiting Scholar. MOS-gate thyristorの研究に従事
1999年-2005年 薄ウェハ型IGBTの製品開発に従事
2009年5月-2013年3月 産業技術総合研究所。SiC-MOSFET、SBDの研究,量産技術開発に従事
2013年4月- 国立大学法人 筑波大学 教授。現在に至る
IEEE Senior Member, 電気学会上級会員、応用物理学会会員、著書多数
<主な受賞>
日経エレクトロニクス パワーエレクトロニクスアワード2020 最優秀賞 (2020年12月)
電気学会 第23回 優秀活動賞 技術報告賞 (2020年4月)
電気学会 優秀技術活動賞 グループ著作賞 (2011年)
<専門>
シリコン、SiCパワー半導体設計、解析技術
<WebSite>
http://power.bk.tsukuba.ac.jp/
https://youtu.be/VjorIIacez0
セミナープログラム(予定)
<プログラム>
1.パワーエレクトロニクス(パワエレ)とはなに?
1.1 パワエレ&パワーデバイスの仕事
1.2 パワー半導体の種類と基本構造
1.3 パワーデバイスの適用分野
1.4 最近のトピックスから
1.5 パワーデバイスのお客様は何を望んでいるのか?
1.6 シリコンMOSFET・IGBTの伸長
1.7 パワーデバイス開発のポイント
2.最新シリコンIGBTの進展と課題
2.1 パワーデバイス市場の現在と将来
2.2 IGBT特性改善を支える技術
2.3 IGBT特性改善の次の一手
2.4 新型IGBTとして期待されるRC-IGBTとはなに?
3.SiCパワーデバイスの現状と課題
3.1 半導体デバイス材料の変遷
3.2 ワイドバンドギャップ半導体とは?
3.3 なぜSiCパワーデバイスが新材料パワーデバイスでトップランナなのか?
3.4 SiC-MOSFETのSi-IGBTに対する勝ち筋
3.5 SiC-MOSFETの普及拡大のために解決すべき課題
3.6 SiC MOSFETコストダウンのための技術開発
1) SiCウェハ新技術
2) MOSFETセル技術
3.7 低オン抵抗化がなぜコストダウンにつながるのか?
3.8 SiC-MOSFET内蔵ダイオードのVf劣化とは?
3.9 内蔵ダイオード信頼性向上技術
1) プロトン照射
2) SiCウェハ新技術
3) SBD内蔵SiC MOSFET
4.SiCパワーデバイス実装技術の進展
4.1 SiC-MOSFETモジュールに求められるもの
4.2 銀または銅焼結接合技術
4.3 SiC-MOSFETモジュール技術
5.まとめ
□質疑応答□
公開セミナーの次回開催予定
開催日
【Live配信(アーカイブ配信付き)】 2024年12月23日(月) 13:00~16:30
開催場所
【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。
受講料
一般受講:本体45,000円+税4,500円
E-Mail案内登録価格:本体42,700円+税4,270円
E-Mail案内登録なら、2名同時申込みで1名分無料
2名で49,500円(2名ともE-Mail案内登録必須/1名あたり定価半額の24,750円)
テレワーク応援キャンペーン(1名受講)【オンライン配信セミナー受講限定】
1名申込みの場合:受講料37,400円(E-Mail案内登録価格 35,640円)
定価:本体34,000円+税3,400円 E-Mail案内登録価格:本体32,400円+税3,240円
※1名様でオンライン配信セミナーを受講する場合、上記特別価格になります。
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※他の割引は併用できません。
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配布資料
PDFテキスト(印刷可・編集不可)
※開催2日前を目安に、主催者サイトのマイページよりダウンロード可となります。
オンライン配信のご案内
※【Live配信(zoom使用)対応セミナー】についてはこちらをご参照ください
※【WEBセミナー:アーカイブ受講対応セミナー】についてはこちらをご参照ください
アーカイブ(見逃し)配信について
※視聴期間は終了翌日から7日間を予定しています。またアーカイブは原則として編集は行いません。
※マイページからZoomの録画視聴用リンクにてご視聴いただきます。
備考
※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。
※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。
特典
■Live受講に加えて、アーカイブでも1週間視聴(※年末年始を挟むので1/6まで)できます■
【アーカイブの視聴期間】2024年12月24日(金)~1月6日(月)まで
※このセミナーはアーカイブ付きです。セミナー終了後も繰り返しの視聴学習が可能です。
お申し込み方法
★下のセミナー参加申込ボタンより、必要事項をご記入の上お申し込みください。