★溶液中の固体異物、固体中の液体／固体異物、積層フィルム、微量成分異物分析でのサンプリング、前処理、測定方法、結果の詳細を解説！

FT-IRによる異物分析のサンプリング、

前処理、測定とデータ解析方法

【提携セミナー】

主催：株式会社技術情報協会

講座内容

・異物のサンプリング方法
・現場でのサンプリング失敗例
・異物でよく使用されるFT-IRの測定方法
・異物の大きさと空間分解能（微小異物への対応）
・測定方法別のきれいなスペクトルを得るコツ
・よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
・FT-IR以外の分析装置
・異物分析の実施例

【講座概要】
「実践に役立つ！」を目指した講座です。
異物分析において重要なことは、迅速かつ簡便に原因を知り、異物クレームへの対処や異物発生の抑制へとつなげることです。

本講演では、数μm～の異物を対象に、異物の収集方法やその際に確認できる情報、測定方法、解析方法、問題解決にむけてのアプローチなど、一連の流れがわかるようになるべく多くの事例を交えながら解説します。

特に、異物分析で最も使用頻度の高いFT-IR分析に焦点を当て、よりFT-IRを知る事で今まで以上に使いこなせる事を目標にしています。 加えて、FT-IRの不足を補う装置の解説も加えています。

＊今回の講座は、少しでも多くの視点を得ることを考慮し、参加者の皆様と２つの事例を考えるセッションを取り入れております。参加者の方々のお考えや知識も聞けるチャンスです。

習得できる知識

・異物・トラブルへの対処方法
・FT-IRによる異物の分析方法
・FT-IRの測定方法のコツと解析方法
・FT-IRだけで解決する異物と他の分析機器との併用が必要な異物
・異物対応にまつわる関連部署との連携・コミュニケーション方法

担当講師

あなりす　代表　岡田　きよみ　氏

セミナープログラム（予定）

１．はじめに
1.1 本セミナーのポイント
1.2 コミュニケーション
1.3 分析の目的

２．異物の概要
2.1 異物とは何か
2.2 異物の種類

３．異物の分析方法
3.1 異物分析で大切なこと
3.2 異物分析の手順
3.3 製造工程でわかること
3.4 観察でわかること
3.5 異物のサンプリング方法
3.6 現場でのサンプリング失敗例
3.7 異物の情報収集
3.8 問題解決に向けてのアプローチ

４．FT-IRを使用した異物分析
4.1 異物分析の中のFT-IR
4.2 FT-IRの概要
4.3 異物でよく使用されるFT-IRの測定方法
4.4 異物の大きさと空間分解能（微小異物への対応）
4.4 測定方法別のきれいなスペクトルを得るコツ

＜練習問題＞
あなたなら、この異物分析、どのように答えをだしていきますか？
正解や不正解はありません。

4.5 スペクトルの解析
a. よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
b. データベースを使った解析
c. 問題解決のための解析とは何か

５．FT-IR以外の分析装置
5.1 SEM-EDS
5.2 蛍光X線
5.3 GC、GC-MSおよびLC
5.4 その他

＜練習問題の考察＞
こんなこと、あんなこと・・・みなさんでお話しましょう。
今までよりも１つでも多くの視点を持つことも目的としています。
（練習問題のまとめ）

６．異物分析の実施例
（目的、サンプリングと前処理、測定方法、結果の詳細解説）
6.1 溶液中の固体異物
6.2 固体中の液体異物
6.3 固体中の固体異物
6.4 積層フィルムの分析
6.5 微量成分異物の分析
6.6 気体（異臭）の分析
6.7 劣化起因の分析トラブルの分析
6.8 長期データ蓄積によって解決した異物分析

７．まとめと質疑応答

公開セミナーの次回開催予定

開催日

2022/9/26（月）10:30~16:30

開催場所

Zoomによるオンライン受講

受講料

1名につき55,000円(消費税込･資料付き)
〔1社2名以上同時申込の場合1名につき49,500円(税込)〕

技術情報協会主催セミナー　受講にあたってのご案内

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備考

資料は事前に紙で郵送いたします。

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