高分子製品・フィルムの劣化と寿命解析【提携セミナー】
| 開催日時 | 【Live配信】2025/8/28（木）10:30~16:30, 【アーカイブ】2025/9/8まで受付（視聴期間：9/8~9/18まで） |
|---|---|
| 担当講師 | 本山 晃 氏 |
| 開催場所 | Zoomを利用したLive配信 または アーカイブ配信 |
| 定員 | 30名 |
| 受講費 | 55,000円(税込) |
★耐候性，耐光性，耐熱性，耐加水分解性・・・各ファクターを劣化予測に取り入れるコツ
★屋内と屋外での違い，計算ツールの選び方・使い方，各分野での応用
高分子製品・フィルムの劣化と寿命解析
【提携セミナー】
主催：株式会社技術情報協会
講座内容
過去からフィルムを使った電子機器の市場トラブルが多く，現在まで改善が進んでいないのが現状です。この市場トラブルを未然に防止するために，部品を選定する際の注意事項やのコツや工程監査の仕方，並びに寿命目標をクリアするための信頼性加速試験の条件設定の方法を詳細に紹介します。
習得できる知識
①フィルムの選定時の注意点や工程監査の考え方を学び，
②寿命予測の木と知識と寿命目標をクリするための信頼性加速試験法を立案できるようになる
担当講師
M.A信頼性技術オフィス 代表 本山 晃 氏
＜略歴＞
【元】 パナソニック㈱解析センター 主幹
【元】 大阪大学 非常勤講師 （2012/9～2015/3）
＜受賞歴＞
日本信頼性学会 特別賞（2010年），他多数
＜公職＞
日本信頼性学会 関西支部顧問
同 信頼性試験研究会，故障物性研究会
セミナープログラム（予定）
１．フィルムを使った電子機器のトラブルの現状
1.1 短寿命となった市場トラブル
1.2 発火問題を伴う市場トラブル
２．市場トラブル原因の推定
３．トラブルを起こさないためのフィルム選定時の注事項とコツ
3.1 自社の信頼性目標に合致した仕様書を取り交わす
3.2 サプライヤー工程監査のポイント
3.3 仕様書記載の信頼性試験項目でわかること
４．市場での環境で劣化する時の寿命予測の方法
4.1 電子機器の寿命を予測するための基本的な考え方
4.2 寿命予測に用いるいろいろな劣化(速度)加速モデル
4.3 フィルムの劣化モード
4.4 温度と湿度で劣化する加速モデル式を設定
4.5 市場での寿命（故障時間と累積故障確率）を予測
５．不安全問題に対する解析方法
5.1 フィルムの発煙・発火モード
5.2 発煙・発火レベルを検証
６．市場トラブル品の故障解析事例
【質疑応答】
公開セミナーの次回開催予定
開催日
【Live配信】2025/8/28（木）10:30~16:30, 【アーカイブ】2025/9/8まで受付（視聴期間：9/8~9/18まで）
開催場所
Zoomを利用したLive配信 または アーカイブ配信
受講料
1名につき 55,000円(消費税込､資料付)
〔1社2名以上同時申込の場合のみ1名につき49,500円〕
備考
資料は事前に紙で郵送いたします。
お申し込み方法
★下のセミナー参加申込ボタンより、必要事項をご記入の上お申し込みください。
★【LIVE配信】、【アーカイブ配信】のどちらかご希望される受講形態をメッセージ欄に明記してください。
※お申込後はキャンセルできませんのでご注意ください。
※申し込み人数が開催人数に満たない場合など、状況により中止させていただくことがございます。
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