≪有機物を中心とした≫二次イオン質量分析(SIMS/TOF-SIMS/OrbiSIMS)の基礎と分析の進め方および機械学習によるデータ解析【提携セミナー】
| 開催日時 | 2026/3/13（金）13:00～16:30 |
|---|---|
| 担当講師 | 青柳 里果 氏 |
| 開催場所 | 【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。 |
| 定員 | - |
| 受講費 | 通常申込：49,500円 E-Mail案内登録価格：46,970円 |
≪有機物を中心とした≫
二次イオン質量分析(SIMS/TOF-SIMS/OrbiSIMS)の
基礎と分析の進め方および機械学習によるデータ解析
TOF-SIMS／OrbiSIMSの特徴、応用例、SIMSデータへの機械学習の応用など。
【提携セミナー】
主催：サイエンス＆テクノロジー株式会社
受講可能な形式：【Live配信(アーカイブ配信付)】のみ
二次イオン質量分析法の基礎から、有機物を対象とした分析の進め方、応用例、機械学習の応用までを解説します。
【主な内容】
- 二次イオン質量分析法の原理や装置といった基礎
- TOF-SIMS／OrbiSIMSの特徴
- 高分子・細胞・複合材料などの有機物を対象とした分析における装置の選定、目的に合わせた分析の進め方、
測定の実際(試料準備、測定条件の決定、測定時の注意点、測定後のデータの扱い等)。 - TOF-SIMSの応用例：有機物・高分子・バイオ材料・生物試料およびその他材料(有機無機複合材料・無機物・電池材料・半導体等)
- SIMSデータへの機械学習の応用
など。
セミナー趣旨
二次イオン質量分析法（SIMS）の分析対象は、生物、薬剤、高分子、有機無機複合材料、電子材料、半導体、金属など極めて幅広い。また、SIMS装置の選択肢も多く、目的に応じてどの装置をどのように用いて、得られたデータをどのように解析するのが最も適しているか判断が難しい場合も多い。
本講演では、有機物（細胞、高分子から有機無機複合体まで含む）を対象とした分析において、どのタイプの装置を選ぶとどのような情報が得られるか、また求める情報に対してどのような分析の進め方があるか、事例を示しながら紹介する。また、スペクトルとイメージを含むSIMSデータに機械学習を応用するにあたって、データ変換方法から、求める情報に応じた機械学習手法の応用例を紹介する。
得られる知識
- ToF-SIMSおよびその周辺（OrbiSIMSなど）についての基礎知識
- スペクトルとイメージを併せ持つSIMSデータの基本構造の理解
- 教師なしおよび教師あり機械学習法の基礎知識とSIMSデータへの応用例
受講対象
- 予備知識は特に必要ないが、分析化学・表面分析・質量分析などの知識が多少あると理解しやすい。
- 表面分析・化学イメージングを利用している方、もしくはこれから利用する方に役立つ。
- 計測データへの機械学習の応用について学びたい方に役立つ。
担当講師
成蹊大学 理工学部 教授 博士(工学) 青柳 里果 氏
【専門】表面科学、二次イオン質量分析法、多変量解析、機械学習、生物物理学
1995年早稲田大学理工学部応用化学科卒業、1997年同大学院修士課程修了。P&G Far East Inc.で微生物を研究。2001年早大理工助手、2002年早大院理工博士後期課程修了、バイオセンサ開発で博士号（工学）取得。2002年成蹊大学理工学部助手、TOF-SIMSデータ解析開始。2005年島根大学生物資源科学部助教授/准教授。2014年成蹊大理工准教授、2017年から現職。2024年度からISO TC201 SC6 (Mass Spectrometries) 国際議長。
【ホームページ】https://eeserv.st.seikei.ac.jp/spectra/
セミナープログラム（予定）
１．二次イオン質量分析法（SIMS）の特徴
1.1 SIMSの原理と一次イオン源
1.1.1 飛行時間型二次イオン質量分析法(ToF-SIMS)
1.1.2 一次イオン源 Biクラスターとガスクラスターイオンビーム
1.2 SIMSのデータの構造 スペクトルとイメージ
1.2.1 質量スペクトル
1.2.2 ２次元イメージング
1.2.3 深さ方向分析と3次元イメージング
1.3 最近のToF-SIMSの周辺
MSMS、オービトラップ、レーザーイオン化（レーザーSNMS）
1.4 測定の実際
試料準備、測定条件の決定、測定時の注意点、測定後のデータの扱いなど。
２．ToF-SIMSの応用例
2.1 有機物・高分子
2.2 バイオ材料・生物試料
2.3 その他（有機無機複合材料・無機物・電池材料・半導体など）
３．SIMSデータへの機械学習の応用
3.1 機械学習とは
3.2 機械学習に向けた計測データの変換
3.3 教師なし学習法による特徴抽出
3.4 教師あり学習法による未知物質同定と定量分析
3.5 複数測定手法データ（マルチモーダルデータ）の構築方法と機械学習の応用
□ 質疑応答 □
公開セミナーの次回開催予定
開催日
2026/3/13（金）13:00～16:30
開催場所
【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。
受講料
一般受講：本体45,000円＋税4,500円
E-Mail案内登録価格：本体42,700円＋税4,270円
E-Mail案内登録なら、2名同時申込みで1名分無料
2名で49,500円 (2名ともE-Mail案内登録必須／１名あたり定価半額24,750円)
3名で74,250円 (3名ともE-Mail案内登録必須) ※4名以上の場合も1名あたり24,750円で受講できます。
テレワーク応援キャンペーン(1名受講)【オンライン配信セミナー受講限定】
1名申込みの場合： 受講料 39,600円(E-Mail案内登録価格 37,840円)
定価：本体36,000円＋税3,600円
E-Mail案内登録価格：本体34,400円＋税3,440円
※１名様でオンライン配信セミナーを受講する場合、上記特別価格になります。
※お申込みフォームのメッセージ欄に【テレワーク応援キャンペーン希望】とご記載ください。
※他の割引は併用できません。
★【S&T会員登録】と【E-Mail案内登録】の詳細についてはこちらをご参照ください。
※E-Mail案内登録をご希望の方は、申込みフォームのメッセージ本文欄に「E-Mail案内登録希望」と記載してください。ご登録いただくと、今回のお申込みからE-mail案内登録価格が適用されます。
配布資料
PDFテキスト(印刷可・編集不可)
※開催2日前を目安に、主催者サイトのマイページよりダウンロード可となります。
オンライン配信のご案内
※【Live配信（zoom使用）対応セミナー】についてはこちらをご参照ください
※【WEBセミナー：アーカイブ受講対応セミナー】についてはこちらをご参照ください
■アーカイブ配信について
視聴期間：終了翌営業日から7日間［3/16～3/22中］を予定
※動画は未編集のものになります。
※視聴ページは、開催翌営業日の午前中には、マイページにリンクを設定します。
備考
※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。
※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。
お申し込み方法
★下のセミナー参加申込ボタンより、必要事項をご記入の上お申し込みください。
おすすめのセミナー情報
注目のセミナー
生成AIで事業企画力を極める！製造業向け「新市場開拓」実践講座（セミナー）
開催日時 2026/1/21（水）13:00～17:00
《1日で学べる》溶接の基礎・完全習得講座（セミナー）
開催日時 【Live配信受講】 2026/1/26（月）9:30～16:30 , 【アーカイブ配信】 1/28-2/11
これからはじめる構造解析CAE【オンデマンドセミナー】
開催日時 オンデマンド受講
LTspiceで学ぶ電子部品の基本特性とSPICEの使いこなし（セミナー）
開催日時 2026/1/22（木）10:00～17:00
電子機器の熱対策クリニック《回路と機構両側面からの放熱アプローチ》（セミナー）
開催日時 2026/1/19（月）13:00～17:00
防爆施設における静電気対策（セミナー）
開催日時 2025/12/16（火）14:30～16:30
機械要素の基礎 1日マスター講座（セミナー）
開催日時 【会場受講・LIVE配信】2025/12/19 (金) 10:00～17:00,【アーカイブ配信】2025/12/23～2026/1/6
人気のコラム
