★FT-IRの基礎と異物分析への応用へのポイント

★実務につながる分析操作、スペクトルの解釈、異物、混合物の分析

FT-IRの基礎と異物分析への実践応用、

テクニックとコツ・ノウハウ

【提携セミナー】

主催：株式会社技術情報協会

講座内容

赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。 ただ、測定が容易になった反面、とりあえず使うという状況が生まれて実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかが分からないまま使用されていることも多い。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての現場での活用に軸足を置いた解説を十分に行っているものは少ない。

本講座は、赤外分光法の原理だけではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務での赤外分光法活用を中心とした。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、コツ・ノウハウを解説する。

習得できる知識

• FTIRの基礎知識
• 各種測定方法
• スペクトル解析の考え方
• スペクトルサーチのコツ
• 異物分析テクニック

担当講師

ジャパン・リサーチ・ラボ　代表　奥村 治樹　氏

セミナープログラム（予定）

１．【赤外分光法の基本原理と特徴】
1.1 赤外分光が見ているもの
1.2 分光分析における吸収の定義
1.3 赤外分光の波長領域
1.4 赤外分光分析
1.5 振動モード
1.6 気体と液体・固体
1.7 赤外分光法発展の歴史
1.8 赤外分光法の長所・短所
1.9 赤外分光法による評価
1.10 主な検出器
1.11 検出器の感度特性

２．【透過法】
2.1 透過法
2.2 フリンジ（干渉縞）

３．【全反射法（ATR）】
3.1 全反射（ATR）
3.2 ＡＴＲ法のバリエーション
3.3 ＦＴＩＲ－ＡＴＲにおける測定深さ
3.4 ATR法における注意点
3.5 ATR補正
3.6 異常分散によるスペクトルへの影響
3.7 様々なATRアタッチメント

４．【反射法】

５．【拡散反射法】

６．【顕微赤外】
6.1 装置
6.2 カセグレンレンズによる光学系
6.3 マッピングとイメージング

７．【赤外スペクトル】
7.1 赤外スペクトルの概要
7.2 主な振動モード
7.3 主な吸収帯
7.4 主な有機系官能基の吸収帯
7.5 イオン性官能基の吸収帯
7.6 周辺環境の影響
7.7 赤外分光の構造敏感性
7.8 指紋領域の利用
7.9 カルボニル基の判別
7.10 スペクトルサーチ
7.11 スペクトルデータベース
7.12 異物分析におけるＤＢ
7.13 代表的検索アルゴリズム
7.14 検索アルゴリズムの限界
7.15 ヒットスコアの罠
7.16 検索結果の間違い例
7.17 スペクトルサーチのコツ
7.18 混合解析
7.19 オープンライブラリ
7.20 系統解析
7.21 スペクトルパターン
7.22 帰属の考え方
7.23 ラマン分光法との対比

８．【定量分析】
8.1 検量線法
8.2 検量線法が適用困難なケース
8.3 ピーク強度比法

９．【大気成分補正】

１０．【測定条件】
10.1 積算回数
10.2 分解能

１１．【スペクトル処理】
11.1 ベースライン補正
11.2 スムージング・補間
11.3 ベースライン（ピーク強度）
11.4 ピーク高さと面積
11.5 自動処理の注意点

１２．【混合物の解析】
12.1 混合物のスペクトル
12.2 ピーク分離
12.3 差スペクトル
12.4 ATR法における差スペクトル
12.5 他手法との組み合わせ
12.6 抽出法

１３．【異物・微小部】
13.1 顕微透過法
13.2 マイクロサンプリングの検討
13.3 顕微ATR

１４．【汚染・付着物】
14.1 差スペクトル（透過・ＡＴＲ）
14.2 ＡＴＲ転写法
14.3 その他の方法

１５．【サンプリング前の観察】
15.1 ファーストチョイス
15.2 異物の観察
15.3 特異点

１６．【サンプリングの基本とコツ】
16.1 顕微ATR転写法
16.2 サンプリング治具
16.3 作業時の試料固定
16.4 高さ合わせ
16.5 連続作業
16.6 試料の切り出し
16.7 埋もれた異物のサンプリング
16.8 その他のコツ・ポイント

１７．【サンプリング後の測定】
17.1 サンプル厚み
17.2 調整
17.3 イメージングの活用
17.4 こういうのもあり

１８．【高次構造】
18.1 異物と高次構造
18.2 結晶解析
18.3 結晶性評価
18.4 実際の評価

１９．【FTIRにおける注意点】

２０．【事例】
20.1 【フィルム上汚染】
20.2 【ポリイミドの変質層の深さ方向分析】
20.3 【アルミ上異物（シミ）】
20.4【フィルム内部異物】
20.5 【配線上異物】
20.6 【フィルム上異物（ハイブリッド分析）】
20.7【ハジキ分析】
20.8【混合物分析】

２１．【まとめ】

公開セミナーの次回開催予定

開催日

2023年7月28日（木）10:30~16:30

開催場所

Zoomによるオンライン受講

受講料

1名につき55,000円(消費税込･資料付)
〔1社2名以上同時申込の場合1名につき49,500円(税込)〕

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