EUVリソグラフィ技術、メタルレジスト材料の開発と課題【提携セミナー】

レジスト 基板

EUVリソグラフィ技術、メタルレジスト材料の開発と課題【提携セミナー】

このセミナーは終了しました。次回の開催は未定です。

おすすめのセミナー情報

開催日時 2024/1/24(水)10:30~16:15
担当講師

藤森 亨 氏
関口 淳 氏
古澤 孝弘 氏

開催場所

Zoomによるオンライン受講

定員 30名
受講費 1名につき60,500円(税込)

★ 半導体微細化を達成するには? メタルレジストの特徴、課題と動向を徹底解説!

 

EUVリソグラフィ技術、

メタルレジスト材料の開発と課題

 

 

【提携セミナー】

主催:株式会社技術情報協会

 


 

講座内容

1.リソグラフィの微細化とEUVリソグラフィ用フォトレジストの開発
2.EUVレジスト材料開発と評価・プロセス技術
3.放射線化学に基づいたメタルレジストの反応機構と課題

 

 

習得できる知識

・フォトレジスト開発従事者による材料面からみたリソグラフィの歴史の理解。先端EUVレジストの課題とその解決検討状況の理解。国家プロジェクトの必要性と活用法の理解

 

 

担当講師

1. 富士フイルム(株) エレクトロニクスマテリアルズ研究所 シニアエキスパート 藤森 亨 氏
2. リソテックジャパン(株) 専務取締役 ナノサイエンスグループ長 博士(工学) 関口 淳 氏
3. 大阪大学 産業科学研究所 教授 工学博士 古澤 孝弘 氏

 

 

セミナープログラム(予定)

 

<10:30~12:00>

1.リソグラフィの微細化とEUVリソグラフィ用フォトレジストの開発

富士フイルム(株) エレクトロニクスマテリアルズ研究所 シニアエキスパート 藤森 亨 氏

 

【講座概要】
昨今、私たちは新たなデジタル社会と対面している。世の中で頻繁にその言葉を耳にするIOT、AI、Soceity5.0等の発展に対し、さらなるデバイスの高速化、大容量化、省電力化が求められている。そのために不可欠なのがリソグラフィの微細化であり、その実現には、フォトレジスト材料の開発が必須である。究極の微細化であるEUVリソグラフィ用フォトレジスト材料の開発に関し、その歴史、背景を交え解説する。

【受講対象】
フォトレジスト初心者および中級の方。経験豊富なレジストサプライヤーの知見を聞きたい方。フォトレジストについて勉強したい方。昨今流行りのネタなので、聞いてみよう、と思う方。リソグラフィの歴史をあらためて復習したい方。EUVレジスト開発の概略を聞きたい方

【受講後、習得できること】
フォトレジスト開発従事者による材料面からみたリソグラフィの歴史の理解。先端EUVレジストの課題とその解決検討状況の理解。国家プロジェクトの必要性と活用法の理解

 

1.世の中を取り巻く環境の変化
1-1 アナログからデジタルへ、電子デバイスの高速化、大容量化、省電力、AI活用の例
1-2 昨今話題の日本の半導体産業への取り組み

2.リソグラフィ微細化の歴史
2-1 リソグラフィとは。なぜフォトレジストが必要か。
2-2 微細化を牽引するムーアの法則と露光波長短波化によるリソグラフィ微細化の歴史
2-3 EUVリソグラフィ実用化困難時代に生まれたArF液浸リソグラフィの延命の切り札、富士フイルムによるNegative-tone imaging (NTI)技術の発明

3.EUVリソグラフィ
3-1 EUVリソグラフィの歴史、実用化に必要な3つの課題とその重要性の推移
3-2 最初にたちはだかった大きな課題、アウトガス問題
3-3 国家プロジェクトにて対応したアウトガス問題解決(EIDEC成果)
3-4 国家プロジェクトにて対応した露光機課題や新規材料開発(メタルレジスト)の紹介
3-5 EUVレジスト特有の課題、ストカスティック因子に関して
3-6 リソグラフィ工程におけるストカスティック因子解析
3-7 フォトンストカスティックとケミカルストカスティックの解説と解決手段例

【質疑応答】

 

—————————

<13:00~14:30>

2.EUVレジスト材料開発と評価・プロセス技術

リソテックジャパン(株) 専務取締役 ナノサイエンスグループ長 博士(工学) 関口 淳 氏

 

1.EUVLの概要
1.1 EUVLの概要
1.2 EUVL用レジスト

2.アウトガス評価技術
2.1 EUVLレジストのアウトガス評価方法
2.2 EUVLレジストのアウトガス評価装置

3.EUVレジストの評価技術
3.1 EUV透過率測定
3.2 ナノパーティクル添加レジストの高感度化
3.3 屈折率nk測定
3.4 EUV2光束干渉露光

4.EUVメタルレジストの評価技術
4.1 メタルレジストの概要
4.2 EUVメタルレジストのアウトガス分析
4.3 EUVメタルレジストの問題点

5.EUVフォトレジストと電子線レジストの感度

【質疑応答】

 

—————————

<14:45~16:15>

3.放射線化学に基づいたメタルレジストの反応機構と課題

大阪大学 産業科学研究所 教授 工学博士 古澤 孝弘 氏

 

【講座概要】
EUVリソグラフィにおいて、次世代サブ10 nmHP用(オングストロームノード用)として期待されるメタル含有レジストの反応機構と課題について解説します。

 

1.レジストとは

2.次世代レジストの課題

3.レジストの像形成機構

4.なぜ、メタルが必要か

5.光吸収と光電子放出

6.二次電子と減速過程と熱化

7.熱化電子の還元作用

8.放射線化学反応

9.溶解度変化のメカニズム

10.課題

11.まとめ

【質疑応答】

 

公開セミナーの次回開催予定

開催日

2024/1/24(水)10:30~16:15

 

開催場所

Zoomによるオンライン受講

 

受講料

1名につき 60,500円(消費税込、資料付)
〔1社2名以上同時申込の場合のみ1名につき55,000円〕

 

 

技術情報協会主催セミナー 受講にあたってのご案内

 

備考

資料は事前に紙で郵送いたします。

 

お申し込み方法

★下のセミナー参加申込ボタンより、必要事項をご記入の上お申し込みください。

 

お申込後はキャンセルできませんのでご注意ください。

※申し込み人数が開催人数に満たない場合など、状況により中止させていただくことがございます。

 

 

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