半導体テスト技術の基礎と動向【提携セミナー】

　　セミナー　　半導体/電子　　半導体・電子部品実装　　半導体テスト技術の基礎と動向【提携セミナー】

開催日時	2025/7/9（水）10:30～16:30
担当講師	畠山一実氏
開催場所	【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。
定員	-
受講費	通常申込：55,000円 E-Mail案内登録価格： 52,250円

半導体テスト技術の基礎と動向

品質、信頼性、セキュリティ、コスト、歩留まり　etc.

生成AI時代の半導体・電子機器を支える基盤技術を学ぶ

【提携セミナー】

主催：サイエンス＆テクノロジー株式会社

受講可能な形式：【Live配信(アーカイブ配信付)】のみ

── 半導体技術の進化・複雑化によりその重要性を増すテストを学ぶ ──

半導体テストの種類・意義などの基礎知識から、最新技術動向、そしてAI用等の半導体で非常に重要となる
理論回路のテスト技術については、テスト品質とテストコストを両立させるポイントも含めて詳説します。

［キーワード］半導体 / テスト / 設計 / 品質 / コスト / 信頼性 / セキュリティ / AI / 技術動向

セミナー趣旨

ChatGPTやGemini等の生成AIが広く普及するとともに、その処理に要する計算能力を供給する半導体の需要は非常に高まっています。また、電気自動車やスマートシティなどでも電子システムが中心的な役割を担っています。さらに、半導体はデジタル変革(DX)のキーデバイスともなっており、半導体集積回路やそれを使用する電子機器の品質、信頼性及びセキュリティは益々重要となっています。このような背景のもと、これらの重要な要件を支える基盤技術として、半導体テスト技術に対する注目が高まっています。

そこで、本講演では、半導体テスト技術について基礎から分かりやすく紹介します。とくに、AI用等の半導体で非常に重要となる論理回路のテスト技術に関して、実際にテストに用いるテストパターンを作成する「テスト生成」及びテスト生成を実用的な時間で可能にする「テスト容易化設計」について、テスト品質とテストコストを両立させるポイントを含めて詳しく説明します。さらに，最新の技術動向として，自動車用半導体等でとくに重要となる「高品質テスト」，テスト技術への「AI」の活用，テスト技術と「セキュリティ」の関わりについて最近の国際会議の論文に基づいて紹介します。

得られる知識

半導体テストに関する基礎知識
論理回路テストに関する一般知識
テスト技術の動向に関する知識

受講対象

半導体の設計や製造に関わる方
電子機器の開発に関わる方
※とくに予備知識は必要ありませんが、論理回路の基礎知識があればより理解が深まります。

担当講師

(株)EVALUTO　講師・技術コンサルタント　工学博士　畠山一実　氏

【専門】テスト設計技術，高信頼化技術
1982年に京都大学大学院博士後期課程を修了(工学博士)。以降，(株)日立製作所，(株)ルネサステクノロジ，(株)半導体理工学研究センター及び奈良先端科学技術大学院大学にてテスト設計技術等の研究開発に従事。その後，群馬大学にてテスト設計技術に関する研究に協力するとともに，日本大学等にて非常勤講師を担当。