基礎からよくわかる、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）、その測定とデータ解析【提携セミナー】

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開催日時	未定
担当講師	内橋貴之氏
開催場所	未定
定員	-
受講費	未定

基礎からよくわかる、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）、

その測定とデータ解析

■ナノスケール分解能の表面構造解析や物性マッピングが容易に可能■

■動作モードの違いと特徴と応用事例やAFM特有のデータ・画像解析方法■

■物性計測の原理と応用、AFMの高速化技術と応用、解析手法■

【提携セミナー】

主催：サイエンス＆テクノロジー株式会社

★ 様々な測定モードがあるため、測定対象や測定環境により最適な測定モードが変わってきます。
★ 動作原理と特徴を理解し、目的に合った使い方を学ぶ！

セミナー趣旨

原子間力顕微鏡(AFM)はさまざまな環境で容易にナノスケール分解能の表面構造解析や物性マッピングが可能なことから、今ではナノサイエンス/テクノロジーに欠かせない顕微技術となり、様々な分野で活用されています。一口に”AFM”と言っても様々な測定モードがあり、測定対象や測定環境により最適な測定モードが変わってきます。さらに、物性計測法にも様々な方法があるため、それぞれの動作原理と特徴を理解することで、はじめて目的に合った使い方ができるようになります。

本講では、はじめにAFMの動作原理とAFMを構成する要素技術について詳説し、次に、動作モードの違いと特徴と応用事例やAFM特有のデータ・画像解析方法について紹介します。また、様々な物性計測の原理と応用、さらにはAFMの高速化技術と応用、解析手法等について幅広く解説します。

＜得られる知識、技術＞

AFMの動作原理と要素技術、イメージングモードの特徴、物性計測法(電気、磁気、摩擦、機械特性)の原理と応用事例、画像解析方法

担当講師

名古屋大学大学院理学研究科教授　内橋貴之　氏

【経歴】
1998年大阪大学大学院工学研究科修了. JRCAT研究員, 姫路工業大学助手, Trinity College, Dublin,研究員, 金沢大学にて助手, 准教授, 教授を経て2017年より現職.
【専門】
走査型プローブ顕微鏡、生物物理学
【受賞】
平成２５年度科学技術分野の文部科学大臣表彰　科学技術賞（開発部門）
【WebSite】
https://www.nagoya-d-lab.com/

セミナープログラム（予定）

＜プログラム＞
１．AFMの基礎
1.1 走査型プローブ顕微鏡とAFM
1.2 AFMの動作原理と要素技術
1.2.1 カンチレバー
1.2.2 探針
1.2.3 変位検出法
1.2.4 PID制御
1.2.5 スキャナー
1.2.6 除振動技術
1.3 フォースカーブ

２．イメージングモードの原理と応用
2.1 コンタクトモード
2.2 タッピングモード
2.3 ノンコンタクトモード
2.4 最近の新しいイメージングモード

３．AFMデータの実際と解析技術
3.1 アーティファクトと対策
3.2 よく使うデータ解析方法
3.3 画像解析技術

４．AFMによる物性計測の基礎と応用
4.1 機械特性
4.1.1 位相イメージング
4.1.2 弾性率計測と解析方法
4.2 電気力計測
4.2.1 電流(抵抗)分布
4.2.2 電荷/電位分布
4.3 磁気計測
4.4 摩擦力計測
4.5 その他の物性計測法