FTIRの基礎から応用までを学びたい人に向けて。

異物分析や混合物解析の具体的な手順、テクニックを紹介します！

FTIRの基礎と異物分析への

実践応用テクニックとコツ・ノウハウ

【提携セミナー】

主催：株式会社情報機構

＊同業者の方（コンサルタント業等）・及び個人でのお申込みの場合、
受講をお断りする場合がございますので、予めご了承下さい。

・本セミナーは、Zoom ミーティングで行います。
・本セミナーでは、受講者のカメラは原則 on にてお願いを致しております。
・本セミナーでは事前質問は受付しておりません。セミナー終了後の質疑の時間にご質問をお願い致します。
・受講申込者の「メールアドレス」は講師へ通知させて頂きます。
（講師からのフォロー・情報提供が目的です。もし不都合がございましたら、申し込みフォームの備考欄にてお知らせ下さい。）

【はじめに】

赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。

ただ、測定が容易になった反面、とりあえず使うという状況が生まれて実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかが分からないまま使用されていることも多い。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての現場での活用に軸足を置いた解説を十分に行っているものは少ない。

本講座は、赤外分光法の原理だけではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務での赤外分光法活用を中心とした。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、コツ・ノウハウを解説する。

◆　受講対象

• 新入社員から中堅実務層
• 若手中堅を教育するマネージャー
• FTIRの基礎から応用までを学びたい人
• 異物分析のテクニックを知りたい人
• 実践的知識とテクニックを修得したい人
  など

◆　受講によって得られる知識・スキル

• FTIRの基礎知識
• 各種測定方法
• スペクトル解析の考え方
• スペクトルサーチのコツ
• 異物分析テクニック
  など

【セミナー受講特典コンサルティング】

セミナーに受講して名刺交換等をさせて頂いた方への特典サービスとして、初回限定で限定特別料金にてコンサルティングをご利用いただけます。技術的な相談はもちろん、戦略相談、オンサイトセミナーなど、依頼条件を満たす限り原則として実施内容、方法に制限はありません。

技術コンサルティングには興味があるが利用したことがないので、どのようなものか良くわからず正式依頼に踏み切れない、決裁を取るために一度ディスカッションしたいという方は、是非この機会に、JRLのコンサルティングを御体験ください。限定特典ではありますが、必ず満足のいただける内容でお応えします。

＜依頼条件＞

• 初回１回のみ
• セミナー実施日より３カ月以内に依頼が成立
• 費用：内容によらず定額の限定特別料金
  

担当講師

ジャパン・リサーチ・ラボ 代表

兼 大阪産業大学　情報システム学科　非常勤講師

京都産業２１　相談員

滋賀県産業支援プラザ　相談員

知財管理技能士 　博士（工学）　 奥村 治樹 氏

セミナープログラム（予定）

1　【赤外分光法の基本原理と特徴】

1.1　赤外分光が見ているもの

1.2　分光分析における吸収の定義

1.3　赤外分光の波長領域

1.4　赤外分光分析

1.5　振動モード

1.6　気体と液体・固体

1.7　赤外分光法発展の歴史

1.8　赤外分光法の長所・短所

1.9　赤外分光法による評価

1.10　主な検出器

1.11　検出器の感度特性

2　【透過法】

2.1　透過法

2.2　フリンジ（干渉縞）

3　【全反射法（ATR）】

3.1　全反射（ATR）

3.2　ＡＴＲ法のバリエーション

3.3　ＦＴＩＲ－ＡＴＲにおける測定深さ

3.4　ATR法における注意点

3.5　ATR補正

3.6　異常分散によるスペクトルへの影響

3.7　様々なATRアタッチメント

4　【反射法】

5　【拡散反射法】

6　【顕微赤外】

6.1　装置

6.2　カセグレンレンズによる光学系

6.3　マッピングとイメージング

7　【赤外スペクトル】

7.1　赤外スペクトルの概要

7.2　主な振動モード

7.3　主な吸収帯

7.4　主な有機系官能基の吸収帯

7.5　イオン性官能基の吸収帯

7.6　周辺環境の影響

7.7　赤外分光の構造敏感性

7.8　指紋領域の利用

7.9　カルボニル基の判別

7.10　スペクトルサーチ

7.11　スペクトルデータベース

7.12　異物分析におけるＤＢ

7.13　代表的検索アルゴリズム

7.14　検索アルゴリズムの限界

7.15　ヒットスコアの罠

7.16　検索結果の間違い例

7.17　スペクトルサーチのコツ

7.18　混合解析

7.19　オープンライブラリ

7.20　系統解析

7.21　スペクトルパターン

7.22　帰属の考え方

7.23　ラマン分光法との対比

8　【定量分析】

8.1　検量線法

8.2　検量線法が適用困難なケース

8.3　ピーク強度比法

9　【大気成分補正】

10　【測定条件】

10.1　積算回数

10.2　分解能

11　【スペクトル処理】

11.1 ベースライン補正

11.2 スムージング・補間

11.3 ベースライン（ピーク強度）

11.4 ピーク高さと面積

11.5 自動処理の注意点

12　【混合物の解析】

12.1　混合物のスペクトル

12.2　ピーク分離

12.3　差スペクトル

12.4　ATR法における差スペクトル

12.5　他手法との組み合わせ

12.6　抽出法

13　【異物・微小部】

13.1 顕微透過法

13.2 マイクロサンプリングの検討

13.3 顕微ATR

14　【汚染・付着物】

14.1 差スペクトル（透過・ＡＴＲ）

14.2 ＡＴＲ転写法

14.3 その他の方法

15　【サンプリング前の観察】

15.1 ファーストチョイス

15.2 異物の観察

15.3 特異点

16　【サンプリングの基本とコツ】

16.1 顕微ATR転写法

16.2 サンプリング治具

16.3 作業時の試料固定

16.4 高さ合わせ

16.5 連続作業

16.6 試料の切り出し

16.7 埋もれた異物のサンプリング

16.8 その他のコツ・ポイント

17　【サンプリング後の測定】

17.1 サンプル厚み

17.2 調整

17.3 イメージングの活用

17.4 こういうのもあり

18　【高次構造】

18.1 異物と高次構造

18.2 結晶解析

18.3 結晶性評価

18.4 実際の評価

19　【FTIRにおける注意点】

20　【事例】

20.1 フィルム上汚染

20.2 ポリイミドの変質層の深さ方向分析

20.3 アルミ上異物（シミ）

20.4 フィルム内部異物

20.5 配線上異物

20.6 フィルム上異物（ハイブリッド分析）

20.7 ハジキ分析

20.8 混合物分析

21　【まとめ】

22　【質疑】

公開セミナーの次回開催予定

開催日

未定

開催場所

未定

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受講料

未定

配布資料

※配布資料・講師への質問等について

●配布資料は、印刷物を郵送で送付致します。
　お申込の際はお受け取り可能な住所をご記入ください。
　お申込みは4営業日前までを推奨します。
　それ以降でもお申込みはお受けしておりますが（開催1営業日前の12:00まで）、
　テキスト到着がセミナー後になる可能性がございます。

備考

●当日、可能な範囲で質疑応答も対応致します。
（全ての質問にお答えできない可能性もございますので、予めご容赦ください。）
●本講座で使用する資料や配信動画は著作物であり
無断での録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売等を禁止致します。

お申し込み方法

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