パワー半導体用SiCの単結晶成長技術およびウェハ加工技術の開発動向【提携セミナー】

ウェハー、半導体

パワー半導体用SiCの単結晶成長技術およびウェハ加工技術の開発動向【提携セミナー】

このセミナーは終了しました。次回の開催は未定です。

おすすめのセミナー情報

開催日時 2024/3/26(火)10:30~16:30
担当講師

加藤 智久 氏

開催場所

オンライン配信セミナー

定員 -
受講費 通常申込:55,000円
E-Mail案内登録価格: 52,250円

 

パワー半導体用SiCの単結晶成長技術および

ウェハ加工技術の開発動向

 

~高品位質、大口径化、量産化、低コストなウェハを実現するために~

 

■半導体用SiCの基礎知識■

■SiCウェハの製造(結晶成長、加工、評価)技術の開発動向■

■SiCウェハ産業の動向■

 

【提携セミナー】

主催:サイエンス&テクノロジー株式会社

 


受講可能な形式:【Live配信】のみ

 

SiCパワー半導体の次世代省エネルギー電力制御機器としての会実装に向けて
極めて安定でダイヤモンドに匹敵する堅牢な結晶であるSiCのウェハ製造技術
SiC単結晶の合成・成長方法、結晶欠陥と制御、大口径結晶の成長
ウェハ切断、研削、研磨、大口径化対応、SiCウェハ産業動向
現状の単結晶成長技術、ウェハ加工技術では何が課題なのか、対応策はあるのか

 

セミナー趣旨

SiCパワー半導体はここ数年で省エネルギー電力制御機器として各産業分野に実装が進み、SiCウェハ産業も世界的に拡大しつつある。SiCウェハは極めて硬く安定な材料であるため、その材料となるSiC単結晶の成長やウェハ加工は技術的にシリコンよりかなり難易度が高いことが知られている。

 

本セミナーではSiC単結晶成長からウェハ加工、それらの材料評価技術に関する、基礎から応用、技術開発動向について解説する。

 

得られる知識

半導体用SiCウェハ製造技術(結晶成長、加工、評価)の基礎知識、これまでの開発動向、現在の技術課題とアプローチ、SiCウェハ産業の動向に関する知識

 

キーワード

:SiC、パワー半導体、ウェハ製造技術、単結晶成長、ウェハ加工、結晶欠陥、加工変質層、材料評価、開発動向、市場動向

 

担当講師

(国研)産業技術総合研究所 つくば西事業所 エネルギー・環境領域
先進パワーエレクトロニクス研究センター ウェハプロセスチーム 研究チーム長 博士(工学) 加藤 智久 氏

 

セミナープログラム(予定)

1.SiCパワー半導体の開発動向とSiCウェハ開発
1)SiCの基礎と物性
i) 身近なSiC
ii) ワイドギャップ半導体と特徴
iii) SiCウェハ
iiii) 他半導体材料とSiCの違い2)SiCパワー半導体への応用
i) SiCを使ったパワーエレクトロニクス技術
ii) SiCパワー素子がもたらす技術変革・応用事例
3)SiCウェハの材料技術開発の動向と市場の要求
i) パワー半導体用SiCウェハ開発の歴史
ii) 国内・外でのSiCウェハ開発動向
iii) SiCウェハ開発に対する今後の期待

 

2.SiC単結晶製造技術
1)SiC単結晶の合成・成長方法
i) SiCの合成
ii) SiC単結晶の量産技術
iii) 各種SiC単結晶成長技術の特徴
iiii) シリコンから見たSiC単結晶製造技術の課題と期待
2)結晶多形と特徴
i) SiCの結晶多形(ポリタイプ)と物性
ii) 多形制御技術
3)結晶欠陥と制御
i) SiC単結晶の結晶欠陥と影
ii) SiC単結晶の欠陥評価技術
iii) SiC単結晶の欠陥抑制技術
4)大口径結晶の成長
i) SiC単結晶の口径拡大成長技術
ii) 大口径化がもたらす効果と技術課題
5)n/p型の伝導度制御
i) SiC単結晶の伝導度制御
ii) SiC単結晶の低抵抗化技術

 

3.SiCウェハ加工技術
1)SiCのウェハ加工
i) SiCウェハ加工工程と技術課題
2) ウェハ切断工程
i) SiC単結晶の切断技術
ii) 切断工程の高速化技術
iii) 切断工程の課題と新しい切断技術
3)ウェハ研削工程
i) SiCウェハの研削加工
ii) 研削加工の高速・鏡面化技術
iii) 研削工程の課題と新しい研削加工技術
4) ウェハ研磨工程
i) SiCウェハの研磨加工
ii) 研磨加工と研削加工の特徴や違い
iii) 研磨工程の課題と新しい研削加工技術
5)CMP工程
i) SiCウェハのCMP加工
ii) CMPの高速化技術
iii) CMP工程の課題と新しいCMP加工技術
6) 加工変質層と評価
i) 加工が及ぼすSiCウェハ表面の加工変質層とその特徴
ii) 加工変質層の評価技術
iii) 加工変質層の抑制技術
7) 大口径化対応
i) SiCウェハ加工における大口径化対応の技術課題
ii) 大口径化対応へ向けた解決策の検討

 

□質疑応答□

 

公開セミナーの次回開催予定

開催日

2024/3/26(火)10:30~16:30

 

開催場所

オンライン配信セミナー

 

受講料

一般受講:本体50,000円+税5,000円
E-Mail案内登録価格:本体47,500円+税4,750円

 

※テレワーク応援キャンペーン(1名受講)【オンライン配信セミナー受講限定】
1名申込みの場合:受講料( 定価:41,800円/E-mail案内登録価格:39,820円 )

 

定価:本体38,000円+税3,800円
E-mail案内登録価格:本体36,200円+税3,620円

 

※1名様でオンライン配信セミナーを受講する場合、上記特別価格になります。
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配布資料

製本資料(開催日の4、5日前に発送予定)
※開催まで4営業日~前日にお申込みの場合、到着が開催に間に合わない可能性があります。

 

オンライン配信のご案内

※【Live配信(zoom使用)対応セミナー】についてはこちらをご参照ください

 

備考

※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。
※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。

 

お申し込み方法

★下のセミナー参加申込ボタンより、必要事項をご記入の上お申し込みください。

 

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