粉末X線回折を用いた結晶分析【提携セミナー】
開催日時 | 【Live配信】2025/5/14(水)10:00~16:00, 【アーカイブ】2025/5/23まで申込受付(視聴期間:5/23~6/2まで) |
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担当講師 | 上村 祐一郎 氏 |
開催場所 | Zoomを利用したLive配信 または アーカイブ配信 |
定員 | 30名 |
受講費 | 55,000円(税込) |
★最適な測定法や解析のコツ、各事例など
粉末X線回折を用いた結晶分析
【提携セミナー】
主催:株式会社技術情報協会
講座内容
粉末X線回折図形には、含有物質とその含有量、格子定数、結晶子サイズや格子歪みなど、多くの結晶パラメータが含まれています。すなわち、回折図形を上手に活用(解析)すると様々な結晶の情報を引き出すことができます。
但し、解析目的に応じた測定を行わないと、回折データを上手に活用することはできません。近年のX線回折計には、多種に渡る光学系、試料ステージ、検出器を装着することができ、その組み合わせから、より質の高いX線回折図形を測定することがでます。質の高いデータは、解析を行う上で大きな助けになることがあります。
また、解析方法や手順により、解析結果より信頼性のない数値を取得してしまうこともあります。粉末X線回折図形の解析方法は多種多様であるが、解析ソフトウェア技術の進歩により、容易に数値データを取得することができます。しかし、その精度をしっかりと吟味しなければ無駄な数値となってしまいます。
できるだけ精度の高いX線回折結果の取得を目的として、本セミナーでは、X線回折の原理から測定条件の最適化、回折データの前処理条件、そして各種解析方法とその結果の検討方法について説明いたします。
習得できる知識
★ 光学系の選択、試料ステージ、検出器の組み合わせ、試料調整、前処理のポイント
★ 解析ソフトに頼りっきりになってないか?取得データの精度は大丈夫? 数値の吟味、信頼性を高める手法
★ 多変量解析を用いた機械学習による自動解析方法など、新しい解析方法やその事例!
担当講師
スペクトリス(株) Malvern-Panalytical事業部 シニアアプリケーションスペシャリスト 上村 祐一郎 氏
セミナープログラム(予定)
1.X線回折の原理
2.より良い測定結果を取得するために
・測定試料の調整方法のポイント
・最適な光学系の選択方法
・測定条件の最適化
3.解析に必要なデータ前処理
・各種データ処理について
・解析に必要/不必要なデータ処理
・データ処理の際に注意したいこと
4.定性分析に必要なこと
・リファレンスデータベースの種類と内容
・定性分析に必要な前情報
・定性分析の手順
5.定量分析とその結果についての吟味
・検量線法から最新の定量分析法までのご紹介
・リートベルト解析法を用いた定量方法
6.その他解析方法
・結晶化度、格子定数精密化、結晶子サイズ・格子歪みなどの解析方法とその事例の紹介
・多変量解析を用いた機械学習による自動解析方法
公開セミナーの次回開催予定
開催日
【Live配信】2025/5/14(水)10:00~16:00, 【アーカイブ】2025/5/23まで申込受付(視聴期間:5/23~6/2まで)
開催場所
Zoomを利用したLive配信 または アーカイブ配信
受講料
1名につき 55,000円(消費税込、資料付)
〔1社2名以上同時申込の場合のみ1名につき49,500円〕
備考
資料は事前に紙で郵送いたします。
お申し込み方法
★下のセミナー参加申込ボタンより、必要事項をご記入の上お申し込みください。
※お申込後はキャンセルできませんのでご注意ください。
※申し込み人数が開催人数に満たない場合など、状況により中止させていただくことがございます。