FT－IR入門セミナー

≪今まで以上にIRを活用するために≫

【提携セミナー】

主催：株式会社情報機構

• FT-IRを使用し始めた方や再度勉強してみようと思っている方へ
• FT-IR本体ATR法で、きれいなスペクトルを得るための測定ポイント？
• みなさんお困りの解析：ちょっとしたコツを知って、案外簡単かもと思えるかもしれません。
• 経験豊富な講師から直接指導を受ける：学習効率の高い都内対面セミナーです。

セミナーポイント

講師より／講演の目的など

本講演の目的は、FT-IRを使用し始めた方や再度勉強してみようと思っている方を対象に、FT-IRの測定→解析→報告の一連の操作を少しでも抵抗なくできるようすることです。できるだけ具体的なお話をしていきます。FT-IRの基礎的なことを確認することで、今まで以上にFT-IRを使いこなしていただけるのはないでしょうか。

本セミナーでは、FT-IRの基礎的な講義に加え、近年一番多用されているFT-IR本体ATR法できれいなスペクトルを得るための測定ポイントについての理解を深めることができます。少しの工夫できれいなスペクトルを得ることが可能となり、解析がしやすくなりますよ。（測定のお話は、本体での測定の説明をさせていただきます。）

解析に関しては、測定したデータからのデータベースを使用しての検索方法、自社データベースのメリット、よく使用されるスペクトルの処理方法とその使用例を解説していきます。解析でお困りの方は多いようですが、ちょっとしたコツを知ることで「案外簡単かも」と感じていただけると思います。

■受講することで得られる知識/ノウハウは？

• FT-IRの基本事項・必須知識
• FT-IRを使う上での細かなノウハウ・ヒント
• FT-IR測定でわかること
• FT-IRの測定（本体ATR測定）方法
• スペクトルの処理方法
• データベースの使い方と注意点
• データベースを使用したスペクトル解析方法
• FT-IR分析の一連の流れと具体的作業

■受講対象者は？

• FT-IRにこれから携わる新任者
  （・FT-IRを実務で1～2年ほど使っている方）
• FT-IRについて初歩から体系的におさらいしたい、学び直したい方
• 新たにFT-IRを取り扱うことになった方
• 社内にFT-IRについて聞ける人がいないという方／聞ける人はいるがその機会を設けにくい方

○会場セミナーであることのメリット（講師より）

本セミナーは会場での対面型としています。オンラインの場合、自分の中の課題を講師に伝えたり、具体的な質問をしたりというのが困難だという声もよく耳にします。折角直接お会いするのですから、あなたの学習目的、ほんとうに知りたいことをお伺いしながら進めていきたいと思います。また、同じ内容を学ぶ受講者同士の交流も歓迎します。みなさんの課題感を共有しつつ実りあるセミナーにできればと思います。

担当講師

あなりす　代表　工学博士　岡田 きよみ 氏

※希望者は講師との名刺交換が可能です。

講師紹介
1984-2005 王子ホールディングス株式会社
（神埼製紙合併→新王子製紙合併→王子ホールディング、上級研究員）
（主に、画像用感熱フィルムの開発および分析業務担当）
2006-2016 株式会社パーキンエルマージャパン（分子分光シニアスペシャリスト）
2016-2019 京都大学 工学研究科(NEDOプロジェクト セルロースナノファイバー関係 特定研究員)
2018-　あなりす

セミナープログラム（予定）

※早めに来場された方：講師と名刺交換（参加者同士での名刺交換：任意）
・どのような経緯で今回参加したのか、普段どんな業務をしているか等、可能な範囲で講師にお伝えください。みなさまに極力マッチする話し方を心がけます。

1.分析の目的と結果
1.1 目的と結果のつながり
1.2 分析の中のFT-IRという装置

2.FT-IRの基礎
2.1 FT-IRで得られる情報は何か
2.2 FT-IR（スペクトル）の縦軸と横軸、およびピーク情報
2.3 FT-IRの活躍場面
2.4 FT-IRでスペクトルが得られるまで
2.5 FT-IRの長所と短所

3.FT-IRの測定方法（本体）
3.1 様々な測定方法
3.2 本体-透過法の特徴と利用例
3.3 本体-ATR法の特徴と利用例
3.4 本体-ATR法できれいなスペクトルを得るコツ
3.5 サンプリングと前処理

4.スペクトルの解析（その1）
4.1 データベースを用いた解析
4.2 よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
4.2.1 差スペクトル
4.2.2 ベースライン補正
4.2.3 ピーク比較
4.3 混合物の解析

5.スペクトルの解析（その2）
5.1 問題解決のための解析（具体的なものとの照合）
5.2 オリジナルデータベースの作成
5.3 ピークに注目した解析
5.4 解析のための知識

6. FT-IRを使用した実施例
6.1 材料分析の例
6.2 異物分析の例
6.3 劣化分析の例

7.報告書の作成と報告

8.質疑応答

• セミナー前に寄せられた質問や、当日頂いた各質問にお応えします。

公開セミナーの次回開催予定

開催日

2026年1月27日(火)　13:00-16:30　＊途中、小休憩を挟みます。

開催場所

【会場受講】[東京・大井町]きゅりあん 4階研修室

受講料

【会場受講】：1名45,100円(税込（消費税10％）、資料付)
＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき34,100円

＊学校法人割引；学生、教員のご参加は受講料50％割引。

●録音・録画行為は固くお断り致します。

備考

会場（対面）セミナーご受講に関する各種案内（必ずご確認の上、お申込みください。）

●配布資料は、印刷したものを当日会場にてお渡しいたします。

●当日会場でセミナー費用等の現金支払はできません。
●昼食やお飲み物の提供もございませんので、各自ご用意いただけましたら幸いです。
●録音・撮影行為は固くお断りいたします。
●講義中の携帯電話・スマートフォンでの通話や音を発する操作はご遠慮ください。
●講義中のパソコン使用は、講義の支障や他の方のご迷惑となる場合がありますので、極力お控えください。場合により、使用をお断りすることがございますので、予めご了承ください（パソコン実習講座を除きます。）

お申し込み方法

★下のセミナー参加申込ボタンより、必要事項をご記入の上お申し込みください。