走査電子顕微鏡（SEM）の基礎と最適な観察条件の設定方法および像障害の回避法【提携セミナー】

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開催日時	【LIVE配信】2025/11/27（木）13:00～16:00 , 【アーカイブ配信】12/1～12/10（何度でも受講可能）
担当講師	多持隆一郎氏
開催場所	【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。
定員	30名　※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。
受講費	非会員： 49,500円（本体価格：45,000円）会員： 46,200円（本体価格：42,000円）

『帯電現象（チャージアップ現象）』や『コンタミネーション』の原因とその回避法とは？

走査電子顕微鏡（SEM）の基礎と

最適な観察条件の設定方法および像障害の回避法

《基礎／低加速電圧観察法／低真空SEM観察／断面試料作製法／像障害の回避法》

【提携セミナー】

主催：株式会社R&D支援センター

◆セミナー趣旨

SEMは1965年に製品化されてから性能・機能および操作性が飛躍的に向上した。また、近年では自動機能も充実しており、SEMの初心者でもストレスなく操作ができることから、多くのユーザーが研究開発や品質管理のツールとして利用している。しかし、多くのユーザーは、観察目的に応じて観察条件を変更する作業を実施していないのが現状である。今回は、最終的にSEMを用いた解析が正しく実施できるために、試料の特性や観察目的に応じた、観察条件の設定方法や試料前処理について解説する。

◆習得できる知識

SEMの原理、構造に加え、観察条件の設定方法、試料の特性に応じた前処理方法および観察中に遭遇する、帯電現象（チャージアップ現象）、コンタミネーションによる像の劣化の回避法について習得する。

◆受講対象

SEMのユーザー全般。SEM初心者から中級者向けの講座とする。

◆キーワード

走査電子,顕微鏡,SEM,BIB,観察,画像,講演,Web,LIVE,セミナー

担当講師

（株）日立ハイテク　CTソリューション開発部　シニア　多持隆一郎　氏

《ご専門》走査電子顕微鏡の応用技術開発
《ご経歴》
2001年4月～　（公社）日本顕微鏡学会SEM分科会常任幹事
2005年4月～　（公社）日本顕微鏡学会認定試験委員会委員（2018年～23年副委員長）
2013年4月～2019年3月　NBCI計測・評価分科会　副主査
ナノテクノロジー委員会　副主査
2015年4月～　（公社）日本表面真空学会関東支部　副支部長
2017年4月～2019年3月　NEDO国プロ参画「複合計測システムの開発」
2023年6月～2025年6月　公益社団法人日本顕微鏡学会　常務理事
2025年6月～　公益社団法人日本顕微鏡学会　監事