FT-IRを使用した異物分析【提携セミナー】

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開催日時	【LIVE配信】2026/11/19（木） 13:00～17:00 , 【アーカイブ配信】11/20～11/30（何度でも受講可能）
担当講師	岡田きよみ氏
開催場所	【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。
定員	-
受講費	非会員： 49,500円（本体価格：45,000円）会員： 44,000円（本体価格：40,000円）

FT-IRを使用した異物分析

《異物発生から問題解決まで》

【提携セミナー】

主催：株式会社R&D支援センター

◆セミナー趣旨

本セミナーでは、異物分析におけるFT-IRの活用方法について、異物の採取から測定・解析、原因究明、問題解決までの一連の流れを体系的に解説します。

異物分析では、迅速かつ的確に異物の原因を特定し、異物クレームへの対応や再発防止につなげることが重要です。本講演では、数百µm程度以上の目視可能な異物を対象として、異物の収集方法、測定前に確認すべき情報や依頼者へ提供すべき情報、FT-IRによる測定・解析のポイント、さらに分析結果をどのように原因究明や問題解決へ結び付けるかについて、実務の流れに沿って解説します。

また、FT-IRの基礎事項を確認したうえで、ATR法を中心とした測定方法別のきれいなスペクトルを取得するためのコツや、スペクトル解析の考え方、実際の分析事例を多数紹介します。実務で遭遇するさまざまなケースを通して、異物分析の実践的な進め方と問題解決のポイントを習得していただける内容です。

◆習得できる知識

異物発生から問題解決までの流れ
FT-IRできれいなスペクトルを得るコツ
FT-IRを使用した異物解析方法
問題解決におけるコミュケーションの大切さ

◆キーワード

FT-IR,異物,分析,サンプリング,測定,スペクトル,解析,SEM,食品,劣化,セミナー

担当講師

あなりす　代表・工学博士　岡田きよみ氏

＜略歴＞
1984-2005　王子ホールディングス株式会社（開発および分析業務担当、上級研究員）
2006-2016　株式会社　パーキンエルマージャパン　（分光分析関係シニアスペシャリスト）
2016-2019 　京都大学　工学研究科　(セルロースナノファイバー関係特定研究員)
2017- 　あなりす（分析コンサルタント、受託分析会社）

セミナープログラム（予定）

１．分析の目的はなにか

２．異物の概要
2-1　異物の種類
2-2　異物とは何か
2-3　異物の正体

３．異物の分析方法
3-1　異物分析で大切なこと
3-2　異物分析の手順
3-3　問題解決に向けてのアプローチ
3-4　情報収集
3-5　観察でわかること
3-6　現場からのサンプリング

４．FT-IRを使用した異物分析
4-1　異物分析の中のFT-IR
4-2　FT-IRの概要
4-3　FT-IRの測定方法
4-4　本体測定と顕微測定の違い
4-5　きれいなスペクトルを得るコツ
4-6　FT-IR測定のための前処理
4-7　スペクトルの解析
a.データベースを使用した解析
b.よく使われるスペクトルの処理
c.問題解決のための解析
d.オリジナルデータベースの作成

５．FT-IR以外の分析装置
5-1　SEM-EDS
5-2　蛍光X線
5-3　GC、GC-MSおよびLC

６．異物分析の事例
6-1　分散不良による異物分析（異物は何か、なぜ異物が発生したか）
6-2　食品中の異物分析（観察とスペクトル）
6-3　歩留まり向上のための異物分析（異物発生源の特定）
6-4　実証実験によってどの段階で異物が混入したかを検証した分析（製造かそれ以後か）
6-5　カビによる異物（観察、スペクトル、検証）
6-6　プラスチック劣化に起因する異物分析（熱劣化、加水分解）
6-7　FT-IRではできなかった異物分析

７．質疑応答