高分子結晶および結晶化プロセス入門《物性・機能制御に向けた基礎知識と評価法》【提携セミナー】

バイオマスモノマーセミナー

高分子結晶および結晶化プロセス入門《物性・機能制御に向けた基礎知識と評価法》【提携セミナー】

開催日時 2026/4/8 (水) 10:30-16:30 *途中、お昼休みや小休憩を挟みます。
担当講師

登阪 雅聡 氏

開催場所

【会場受講】[東京・東新宿]新宿文化センター 4階第1会議室

定員 -
受講費 50,600円(税込(消費税10%)、資料付)

 

高分子結晶および結晶化プロセス入門

 

≪物性・機能制御に向けた基礎知識と評価≫

 

【提携セミナー】

主催:株式会社情報機構

 


 

●低分子や金属と対比しながら、高分子結晶の構造と結晶化プロセスの特徴について解説!
●分子構造の規則性、温度条件、配向条件などを取り上げ、最終的にどのような構造形成につながるか、実例を交えながら紹介させていただきます。

 

◆はじめに

結晶性高分子材料の物性は、結晶が織りなすナノからミクロンスケールの階層的な構造に大きく左右される。こうした結晶構造のコントロールは、より優れた物性の発現や、更なる高機能化を図る為に必須である。従って、様々なスケールで結晶の構造を解析すると共に、そうした構造が形成される機構を正しく理解する必要がある。

 

本講演では先ず、低分子や金属と対比しながら、高分子結晶の構造と結晶化プロセスの特徴について解説する。さらに、物性との関わりが深い項目として、分子構造の規則性、温度条件、配向条件などを取り上げ、最終的にどのような構造形成につながるか、実例を交えながら紹介する。

 

引き続き、高分子結晶の階層的な構造を解析する手法として、顕微鏡法、および、回折・散乱による解析法について解説する。

 

◆受講後、習得できること

  • 高分子結晶に関する考え方
  • 顕微鏡観察に関する基礎知識

 

◆受講対象者

  • 新しく高分子結晶を取り扱うエンジニア
  • 高分子結晶の構造解析に新しく携わるエンジニア
  • 高分子結晶の関係する測定データの解釈にお困りの方
  • 高分子結晶の解析方法にお困りの方

 

◆必要な予備知識や事前に目を通しておくと理解が深まる文献、サイトなど:

  • 高分子に関する基礎知識
  • 高校レベルの数学の知識

 

◆ご講演中のキーワード:

ラメラ晶、平衡融点、顕微鏡、X線回折、散乱

 

担当講師

福井大学 繊維・マテリアル研究センター 教授 登阪 雅聡 氏

 

※希望者は講師との名刺交換が可能です。

■略歴:
平成元年より旭化成工業(株)(当時)にて光学製品の開発に従事。平成7年、京都大学化学研究所に助手として着任。
平成22年より、京都大学化学研究所准教授。令和7年より福井大学 繊維・マテリアル研究センター教授。高分子結晶の高分解能電子顕微鏡観察技術の確立に貢献する他、高分子結晶の局所構造解析、ゴムの伸長結晶化に関する精密解析等を手がけ、現在に至る。
繊維学会 平成26年度繊維学会賞 受賞
日本接着学会 平成27年度(第37回)進歩賞 受賞
日本ゴム協会 第21回CERI最優秀発表論文賞 受賞
繊維学会 平成30年度繊維学会論文賞 受賞
日本接着学会 令和6年度(第46回)学会賞

■専門および得意な分野・研究:
高分子結晶の高次構造解析、高分子結晶化

■本テーマ関連学協会でのご活動:
繊維学会(Journal of Fiber Science and Technology編集委員)
日本ゴム協会(編集委員)
日本接着学会(評議員、関西支部幹事)
著書:高分子の結晶化、延伸による高性能化 分担執筆
(登阪雅聡, 第10章「架橋ゴムの伸長による結晶化―高強度化への布石―」, pp. 95-103 担当)シーエムシー出版 (2024)

 

セミナープログラム(予定)

1.高分子の結晶の基礎
1-1.「結晶」とは何か
1.「結晶」の定義
2.結晶はなぜ生成するか
1-2.高分子結晶の構造的特徴
1.低分子結晶との対比
2.線状高分子の凝集構造
3.高分子結晶特有の高次構造(ラメラ晶、球晶、繊維構造)
1-3.高分子結晶の生成
1.結晶核の形成
2.二次核生成→生長
3.結晶化速度
4.結晶化温度と融点
1-4.物性との関わりと評価法
1.結晶化度
2.融点
3.分子構造の規則性(融点への影響、結晶成長への影響)
4.配向
1-5.高分子結晶化の特性を活用した加工技術の例
1.ゲル紡糸
2.ナノ配向結晶体(NOC)

 

2.構造解析法
2-1.顕微鏡法と回折・散乱法について
1.手法の特徴と使い分け
2.波長と観察スケール
3.コントラスト
2-2.透過型電子顕微鏡
1.試料調製
2.観察モード(明視野像観察、電子回折、暗視野観察)
2-3.回折・散乱の基礎
1.散乱とフーリエ変換
2.ブラッグ回折
3.逆空間
2-4.結晶の回折
1.逆格子(回折反射の指数、エヴァルト球、限界球)
2.多結晶体の回折(粉末図形、繊維図形)
3.微結晶サイズの評価(シェラーの式)
4.測定とデータ処理の流れ
5.電子回折
2-5.小角散乱による積層ラメラの解析
2-6.放射光を用いた解析の実例
1.高速時分割測定
2.マッピング

 

公開セミナーの次回開催予定

開催日

2026年4月8日(水) 10:30-16:30 *途中、お昼休みや小休憩を挟みます。

 

開催場所

【会場受講】[東京・東新宿]新宿文化センター 4階第1会議室

 

受講料

【会場受講】:1名50,600円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき39,600円

 

*学校法人割引;学生、教員のご参加は受講料50%割引。

 

備考

会場(対面)セミナーご受講に関する各種案内(必ずご確認の上、お申込みください。)

 

●配布資料は、印刷したものを当日会場にてお渡しいたします。

 

●当日会場でセミナー費用等の現金支払はできません。
●昼食やお飲み物の提供もございませんので、各自ご用意いただけましたら幸いです。
●講義中の携帯電話・スマートフォンでの通話や音を発する操作はご遠慮ください。
●講義中のパソコン使用は、講義の支障や他の方のご迷惑となる場合がありますので、極力お控えください。場合により、使用をお断りすることがございますので、予めご了承ください(パソコン実習講座を除きます。)

●講座で使用する資料や配信動画は著作物であり、無断での録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売などは禁止いたします。また、申込者以外の受講・動画視聴は固くお断りいたします(代理受講ご希望の際は、開催前日までに弊社までご連絡お願いします)。

 

お申し込み方法

★下のセミナー参加申込ボタンより、必要事項をご記入の上お申し込みください。

 

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