AI/HPC時代に求められる先端半導体パッケージングの構造設計・要素技術最前線【提携セミナー】

AI/HPC時代に求められる先端半導体パッケージングの構造設計・要素技術最前線【提携セミナー】

開催日時 2026/2/12 (木) 13:00-17:00 *途中、小休憩を挟みます。
担当講師

吉田 浩芳 氏

開催場所

Zoomによるオンラインセミナー

定員 -
受講費 【オンライン受講(見逃し視聴なし)】:1名46,200円(税込(消費税10%)、資料付)
【オンライン受講(見逃し視聴あり)】:1名51,700円(税込(消費税10%)、資料付)

 

AI/HPC時代に求められる

先端半導体パッケージングの構造設計・要素技術最前線

 

《材料・実装プロセス・熱/応力設計と国際標準化の動向》

 

【提携セミナー】

主催:株式会社情報機構

 


 

★チップレット/異種集積パッケージの構造設計に関する最新動向と課題を理解!
★AI・生成AI/HPCが求める半導体パッケージ性能要件とは?

 

◆ 講演ポイント

AI・HPC需要の拡大に伴い、半導体パッケージはチップレット化・3次元実装化が急速に進展している。こうした複雑な構造の信頼性確保には、材料・実装プロセス・熱/応力設計を統合した「構造設計技術」と標準化が不可欠である。本講演では、先端パッケージの最新動向を概観するとともに、ガラス基板・RDL・マイクロビアなど重要要素技術、国際標準化(JEITA・IEC・IPC等)の現状と課題や、最近見えてきた新潮流について解説する。

 

◆ 受講後、習得できること

  • チップレット/異種集積パッケージの構造設計に関する最新動向と課題を理解できる
  • ガラス基板や再配線層(RDL)など次世代材料技術の開発方向を把握できる
  • JEITA・IEC・IPCなどにおける標準化動向と国際連携の実態を理解できる
  • 今後の実装・評価基準の方向性や業界のロードマップを俯瞰できる

 

◆ 本テーマ関連法規・ガイドラインなど

  • IEEE Heterogeneous Integration Roadmap (HIR)
  • IEC/SC47D国際規格
  • JEITA・IPCの試験規格・デザインガイド
  • 経済産業省「半導体・デジタル産業戦略」

 

◆ 講演中のキーワード

チップレット/3次元化/AI・半導体/標準化/ハイブリッドボンディング

 

担当講師

大阪大学 産業科学研究所 フレキシブル3D実装協働研究所 特任研究員 吉田 浩芳 氏

 

■経歴
1984年 上智大学 理工学部 物理学科 卒業
1984年 パナソニック入社 半導体後工程技術部門に配属
2007年 IEC SC47D(半導体パッケージング)の国際幹事に就任
2020年 Nuvoton Technology Corporation Japanへ社名変更
(Nuvoton Technology Corporationに事業買収)
入社以来、長年、半導体プロセス・後工程の開発・技術に従事
2020年 定年退職後 大阪大学産業科学研究所フレキシブル3D実装協働研究所研究員兼務
2025年 Nuvoton Technology Corporation Japan退職。大阪大学の方は継続。

■専門および得意な分野・研究
半導体パッケージング技術とその(国際)標準化、近年は、先端半導体用パッケージ基板の信頼性評価技術、故障解析技術についてもリサーチ

■本テーマ関連学協会での活動
JEITA 半導体構造設計サブコミッティ(旧パッケージ技術委員会)で40年以上にわたりエキスパートとして規格づくりに従事。その他、JIEP、JPCAの技術委員会に所属。

 

セミナープログラム(予定)

1. 導入:半導体パッケージングの地殻変動
(1) チップレット化・異種集積化の流れ
(2) AI/HPC需要によるパッケージ革命の背景
(3) 「なぜいま構造設計と標準化が重要なのか」

 

2. 先端パッケージングの動向
(1) CoWoS、Foveros、InFO、Fan-out等の最新構造比較
(2) EU・米・日・韓・台の主要プロジェクト動向(例:Chiplet Hub, HIR, APECS)
(3) パッケージが“設計主導型”に移行している潮流

 

3. 構造設計の要素技術と課題
(1) 材料技術:
・ABF
・ガラス基板
・RDL
・Cu微細配線
(2) 実装プロセス:
・再配線形成
・マイクロビア形成
・低温接合など
(3) 設計
・信頼性・熱応力・電気設計の統合

 

4. AI/HPCのための半導体パッケージング高機能化
(1) AI/HPCが要求するパッケージ性能要件
・チップレット編
・3D積層編
(2) 熱設計の高機能化と課題

 

5. 評価基準などの国際標準化動向と今後
(1) JEITA・IEC・IPC・JEDECの関連動向と位置づけ
(2) 「チップレット新評価基準PG」や「ウィークマイクロビア課題研究会」などの活動例
(3) IEC/SC47D, TC40、TC91とのリエゾン構造と標準化の狙い
(4) 評価法(繰返しリフロー・周期加熱法など)と測定基準化
(5) 今後のアクションの方向性

 

公開セミナーの次回開催予定

開催日

2026年2月12日(木) 13:00-17:00 *途中、小休憩を挟みます。

 

開催場所

Zoomによるオンラインセミナー

 

オンライン配信のご案内

★ Zoomによるオンライン配信

★ 見逃し視聴

については、こちらをご参照ください

 

受講料

【オンライン受講(見逃し視聴なし)】:1名 46,200円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき35,200円

 

【オンライン受講(見逃し視聴あり)】:1名 51,700円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき40,700円

 

*学校法人割引;学生、教員のご参加は受講料50%割引。

 

備考

●配布資料はPDFなどのデータで配布いたします。ダウンロード方法などはメールでご案内いたします。

  • 配布資料に関するご案内は、開催1週前~前日を目安にご連絡いたします。
  • 準備の都合上、開催1営業日前の12:00までにお申込みをお願いいたします。
    (土、日、祝日は営業日としてカウントしません。)
  • セミナー資料の再配布は対応できかねます。必ず期限内にダウンロードください。

 

●当日、可能な範囲でご質問にお答えします。(全ての質問にお答えできない可能性もございます。何卒ご了承ください。)

 

お申し込み方法

★下のセミナー参加申込ボタンより、必要事項をご記入の上お申し込みください。

★【オンラインセミナー(見逃し視聴なし)】、【オンラインセミナー(見逃し視聴あり)】のいずれかから、ご希望される受講形態をメッセージ欄に明記してください。

 

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