表面分析の実践方法とデータ解析手法【提携セミナー】
| 開催日時 | 【Live配信】2025年12月4日 (木) 13：00～16:30 , 【アーカイブ（録画）配信】 2025年12月15日まで受付（視聴期間：12月15日～12月25日まで） |
|---|---|
| 担当講師 | 眞田 則明 氏 |
| 開催場所 | 【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。 |
| 定員 | 30名 |
| 受講費 | 49,500円（消費税込・資料付き） |
★各分析手法の特徴、試料の取り扱い、データの解釈、、、
表面分析を適切に活用するための視点や判断のポイントを解説！
表面分析の実践方法とデータ解析手法
【提携セミナー】
主催：株式会社技術情報協会
講座内容
表面・界面は、あらゆる固体材料・デバイスにおいて、機械的接合、電気的接合、変色、防食など多様な機能に関与しています。特にXPS、AES、TOF-SIMSといった代表的な表面分析は、固体表面の数nm（数十原子層、分子層）の組成や状態を明らかにし、固体最表面および界面を詳しく調べることができます。ただし、試料の取り扱いやデータの解釈には細心の注意が必要です。
本講座では実践的な表面分析のノウハウを述べるとともに、現代の重要材料の分析事例を通して、表面分析を適切に活用するための視点や判断の要点を明らかにします。
習得できる知識
- 表面分析（XPS、AES、TOF-SIMS）の原理と基礎知識
- 表面分析（XPS、AES、TOF-SIMS）の特徴と使い分け
- 表面分析（XPS、AES、TOF-SIMS）の使い方
- 表面分析結果解釈の実例
担当講師
アルバック・ファイ(株) 分析技術顧問 理学博士 眞田 則明 氏
セミナープログラム（予定）
１．固体表面分析（XPS,AES,TOF-SIMS）の基礎
1.1 表面数原子・数分子層の重要性
1.2 なぜ極表面の分析や極薄膜の分析が可能になるのか?
1.3 表面分析法の比較
1.4他の分析手法と比較した特徴
２．表面分析をはじめる前に
2.1 試料の観察
2.2 表面分析のための試料の取り扱い
2.3 分析時の表面汚染を避けるテクニック
３．XPS分析
3.1 XPS分析の原理
3.2 XPS分析の特徴
3.3 ワイドスペクトル、元素の同定
3.4 ナロースペクトル、定量
3.5 化学状態分析
3.6 深さ方向分析
3.7 XPSの分析事例
４．AES分析
4.1 AES分析の原理
4.2 AES分析の特徴
4.3 チャージアップへの対応
4.4 スペクトル測定、元素の同定
4.5 マップ測定
4.6 深さ方向分析
4.7 AESの分析事例
５．TOF-SIMS分析
5.1 TOF-SIMS分析の原理
5.2 TOF-SIMS分析の特徴
5.3 チャージアップへの対応
5.4 スペクトル測定、イオンの同定
5.5 マップ測定、異物の観察
5.6 TOF-SIMSの分析例
６．表面分析の組み合わせとデータ処理
6.1 多変量解析（TFA）によるデータマッサージ
6.2 多変量解析（MCR）による未知成分抽出
6.3 電子材料の分析例
6.4 有機高分子材料の分析例
【質疑応答】
公開セミナーの次回開催予定
開催日
【Live配信】2025年12月4日 (木) 13:00~16:30
【アーカイブ（録画）配信】 2025年12月15日まで受付（視聴期間：12月15日~12月25日まで）
開催場所
【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。
受講料
1名につき49,500円（消費税込・資料付き）
〔1社2名以上同時申込の場合1名につき44,000円（税込）〕
備考
資料は事前に紙で郵送いたします。
お申し込み方法
★下のセミナー参加申込ボタンより、必要事項をご記入の上お申し込みください。
★【LIVE配信】、【アーカイブ配信】のどちらかご希望される受講形態をメッセージ欄に明記してください。
※お申込後はキャンセルできませんのでご注意ください。
※申し込み人数が開催人数に満たない場合など、状況により中止させていただくことがございます。
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