★AI用半導体で重要となる論理回路のテストの詳細から半導体の故障診断技術まで、

最近の動向をふまえ解説します。

半導体テスト技術の基礎・現状および

歩留まり・テスト品質向上のための技術動向

【提携セミナー】

主催：株式会社情報機構

11月19日『半導体設計入門』とセットで受講が可能です。

◆セミナーポイント

ChatGPTやGemini等の生成AIの普及とともに、その処理に要する計算能力を供給する半導体の需要は非常に高まっています。また、自動運転車やスマートシティなどでも電子機器が中心的な役割を担っています。一方、半導体はデジタル変革(DX)のキーデバイスにもなっており、半導体集積回路やそれを利用するシステムの品質及び信頼性は益々重要となっています。

このような背景のもと、これらの重要な要件を支える技術として、半導体テストへの注目が高まっています。

そこで、本講演では、半導体テストについて基礎から分かりやすく紹介します。

とくに、AI用途などの半導体で非常に重要となる論理回路のテストに関して、実際にテストに使用するテストパターンを作成する「テスト生成」、及び、テスト生成を実用的な時間で実行可能にする「テスト容易化設計」について、品質とコストを両立させるポイントを含めて詳しく説明します。

また、テスト結果を歩留まり向上につなげる技術として故障診断についても概説します。

さらに、最新の技術動向として、自動車用半導体等でとくに重要となる「高品質テスト」及びテスト技術への「AI」の応用について、最近の国際会議の論文に基づいて紹介します。

◆受講後、習得できること

論理回路を含む半導体デバイスのテストに関する基礎知識が得られるとともに、これを用いたシステムの開発や製造、品質保証などの実務遂行におけるテストの重要性を理解できる。

◆受講対象

半導体を利用したシステムの開発や製造、品質保証に従事されている方

担当講師

（株）EVALUTO 講師・技術コンサルタント 工学博士 　畠山 一実 氏

講師紹介

＊ご略歴：
日立製作所、ルネサステクノロジ、半導体理工学研究センターおよび奈良先端科学技術大学院大学にてテスト設計技術に関する研究開発に従事。その後、群馬大学にてテスト設計技術に関する研究に協力するとともに、日本大学生産工学部ほかにて非常勤講師を担当。現在は株式会社EVALUTOにて講師・技術コンサルタントを務める。

＊ご専門および得意な分野・研究：
テスト設計技術，高信頼化システム技術

＊本テーマ関連のご活動：
IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council, Asia Pacific Regional Chair
電子情報通信学会　査読委員
「はかる×わかる半導体」シリーズ（分担執筆）

セミナープログラム（予定）

1．半導体のテストについて
1) 半導体のライフサイクルにおけるテストとその意義
2) テストの種類とテスト装置
3) テストコスト
4) テスト品質

2．テスト設計技術
1) テスト生成技術
a) 論理回路のテスト
b) 故障モデル
c) 故障シミュレーション
d) テスト生成アルゴリズム
2) テスト容易化設計技術
a) スキャン設計
・スキャン方式
・スキャンテスト
b) 組込み自己テスト(BIST)
・ロジックBIST
・メモリBIST
c) 圧縮スキャンテスト

3．故障診断技術
1) 故障診断と故障解析
2) 故障診断手法
・原因結果法
・結果原因法

4．歩留まり・テスト品質向上のための技術動向
1) 高品質テスト技術
a) ロジックテストの高品質化
・故障モデルの高度化
・ロジックBISTの高度化
b) アナログテストの高品質化
・欠陥ベーステスト
・アナログテスト容易化設計
2) テストへのAI応用
a) AI応用によるコスト低減
・アダプティブテスト
・アナログテストの効率化
b) AI応用による品質向上
・異常値スクリーニング
c) AI応用による歩留り向上
・ウェハマップ解析
・故障診断

5．まとめ

＜質疑応答＞

公開セミナーの次回開催予定

開催日

2025年11月12日（水）　10:30-16:30

開催場所

Zoomによるオンラインセミナー

受講料

『半導体テスト技術（11月12日）』のみのお申込みの場合
【オンラインセミナー（見逃し視聴なし）】：1名50,600円(税込（消費税10％）、資料付)
＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき39,600円

【オンラインセミナー（見逃し視聴あり）】：1名56,100円(税込（消費税10％）、資料付)
＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき45,100円

『半導体設計入門（11月19日）』と合わせてお申込みの場合
（同じ会社の違う方でも可。※二日目の参加者を備考欄に記載下さい。）
【オンラインセミナー（見逃し視聴なし）】：1名83,600円(税込（消費税10％）、資料付)
＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき72,600円⇒割引は全ての受講者が両日参加の場合に限ります

【オンラインセミナー（見逃し視聴あり）】：1名92,400円(税込（消費税10％）、資料付)
＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき81,400円⇒割引は全ての受講者が両日参加の場合に限ります

＊学校法人割引；学生、教員のご参加は受講料50％割引。

●録音・撮影行為は固くお断り致します。

オンライン配信のご案内

★　Zoomによるオンライン配信

については、こちらをご参照ください

備考

※配布資料等について

●配布資料はPDF等のデータで配布致します。ダウンロード方法等はメールでご案内致します。

• 配布資料に関するご案内は、開催1週前～前日を目安にご連絡致します。
  
• 準備の都合上、開催1営業日前の12:00までにお申し込みをお願い致します。
  （土、日、祝日は営業日としてカウント致しません。）
• セミナー資料の再配布は対応できかねます。必ず期限内にダウンロードください。

●当日、可能な範囲でご質問にお答えします。（全ての質問にお答えできない可能性もございます。何卒ご了承ください。）
●本講座で使用する資料や配信動画は著作物であり、無断での録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売などは禁止致します。

お申し込み方法

★下のセミナー参加申込ボタンより、必要事項をご記入の上お申し込みください。

★【Zoom_半導体テスト技術_見逃なし_見逃なし（11月12日）のみ参加】、【Zoom_半導体テスト技術_見逃なし_見逃なし（11月12日）のみ参加】、【Zoom:半導体テスト技術（11月12日）/半導体設計入門（11月19日）_見逃なし 両日参加】、【Zoom:半導体テスト技術（11月12日）/半導体設計入門（11月19日）_見逃あり 両日参加】のいずれかから、ご希望される受講形態をメッセージ欄に明記してください。