★大電力、高電圧なパワエレ回路、キャパシタの評価技術を解説

パワー半導体デバイス、キャパシタの

信頼性評価と寿命診断技術

【提携セミナー】

主催：株式会社技術情報協会

講座内容

本講演では、パワーエレクトロニクスの信頼性に当たる基礎的な内容を網羅しつつ、パワー半導体デバイスの信頼性評価の一例として、研究室で取り組んでいる、ノイズ誤点呼メカニズムと試験方法について解説するとともに、寿命診断技術についても紹介する。
加えてパワーエレクトロニクスを構成する受動部品であるキャパシタの信頼性評価技術についても解説する。

習得できる知識

・大電力、高電圧なパワエレ回路、キャパシタの評価技術について理解が深まる

担当講師

九州工業大学　大学院工学研究院　電気電子工学研究系　准教授　博士（工学）　長谷川 一徳 氏

セミナープログラム（予定）

１．パワーエレクトロニクスの基礎
1.1 パワーエレクトロニクスの技術発展
1.1.1 電動機可変速駆動の歴史
1.1.2 パワー半導体デバイスの歴史
1.2 回路方式とアプリケーション
1.2.1 構成部品と回路構成
1.2.2 アプリケーション

２．パワー半導体デバイスの信頼性
2.1 パワー半導体デバイスの基礎
2.1.1 パワー半導体の分類と構造
2.1.2 熱回路設計
2.2 ノイズ誤点呼メカニズムとその試験方法
2.2.1 インバータ動作とパワー半導体デバイス
2.2.2 寄生パラメータ分析
2.2.3 ダイオード逆回復電流の影響
2.2.4 IGBT内部電位を考慮したノイズ試験手法
2.3 寿命診断技術
2.3.1 サーマルリサイクルによる劣化
2.3.2 Vce (sat) モニタリングによる寿命診断

３．キャパシタの信頼性
3.1 キャパシタの基礎
3.1.1 各種キャパシタの構造と特長
3.1.2 インバータにおける直流リンクキャパシタ
3.2 損失測定技術
3.2.1 矩形波条件下の損失推定
3.2.2 カロリー法を用いた測定手法
3.3 コンディションモニタリング
3.3.1 加速試験によるキャパシタ寿命予測
3.3.2 ESR/キャパシタンスの独立モニタリング手法
3.3.3 電流センサレス・モニタリング

【質疑応答】

公開セミナーの次回開催予定

開催日

未定

開催場所

未定

受講料

未定

技術情報協会主催セミナー　受講にあたってのご案内

• Live配信セミナーの接続確認・受講手順は こちら をご確認ください。
• お申込み・お支払い方法に関するご案内はこちら をご確認ください。

備考

資料は事前に紙で郵送いたします。

お申し込み方法

★下のセミナー参加申込ボタンより、必要事項をご記入の上お申し込みください。

※お申込後はキャンセルできませんのでご注意ください。

※申し込み人数が開催人数に満たない場合など、状況により中止させていただくことがございます。