半導体製造工程の基礎知識③[成膜~後工程編](eラーニング)
半導体製造工程の基礎知識③[成膜~後工程編](eラーニング)
本講座の狙い
半導体関連ビジネスに関わる方に、半導体製造プロセスの基礎知識を学んで頂くための講座です。3部作の③は、前工程のうち最後の真空プロセスとなる成膜、研磨、検査の各工程、さらに後工程について解説します。
「半導体製造工程の基礎知識③[成膜~後工程編]」の講座概要
半導体プロセスを理解しようとすると、そもそも物質としての半導体とは何かから始まって、どんな機能を持った物を作るのか、どんな工場で作るのかなど、幅広い情報が必要になります。
そこで、「半導体製造工程の基礎知識」と題したこの講座では、全体を3部にわけて、プロセスで使われる装置に注目して説明していきます。
半導体製造工程の基礎知識③[成膜~後工程編]では、前工程のうち最後の真空プロセスとなる成膜、研磨、検査の各工程について、さらに後工程について説明します。プロセスフロー全体を意識しながら学習していただければ幸いです。
本講座の狙い
この講座を受講することで、以下の点を学ぶことができます。
- 半導体業界に属する会社に入社された皆さんや、半導体関連ビジネスに関わる方に、半導体の製造方法(半導体プロセス)の基礎知識を得て頂くこと
想定受講者
- 半導体業界、またはそれにまつわる業界への新卒採用者、他業界からの中途採用者
- 半導体製造にかかわる専門教育を受けたことがない、半導体業界に関わる間接部門担当者、半導体ビジネスにこれから関わる営業担当者
- Tech e-L 半導体業界の基礎知識 の受講と同程度の知識を持った方
「半導体製造工程の基礎知識③[成膜~後工程編]」の主な項目
半導体プロセス
- 前工程の概要と流れ
- 後工程の概要と流れ
成膜装置
- 成膜工程とは
- 熱酸化装置
- CVD装置
- 熱CVD装置
- プラズマCVD装置
- スパッタリング装置
- クラスターツール
- メッキ装置
- 塗布装置
研磨装置
- 研磨装置とは
- CMP装置
- 終点検出
- 研磨後の洗浄
- シリサイド形成と熱処理
検査装置
- 工程後の検査、計測
- パターンなしウェハ検査装置
- パターン付きウェハ検査装置
- 計測装置
- その他の検査装置
- プロービング装置
- 後工程の特徴
- バックグラインド装置
- ダイシング装置
- ダイボンディング装置
後工程装置
- ワイヤボンディング装置
- モールディング装置
- マーキング装置、リードフォーミング
- 最終検査、バーンイン装置
※半導体製造工程の基礎知識①[半導体の基礎と洗浄・乾燥編]、半導体製造工程の基礎知識②[イオン注入~エッチング編]の講座内容もご参照ください。
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