CMP装置技術の実践知見【提携セミナー】
| 開催日時 | 【LIVE配信】2026/9/9(水) 13:00~16:00 , 【アーカイブ配信】9/10(木)~9/24(木) |
|---|---|
| 担当講師 | 奥山 林明 氏 |
| 開催場所 | 【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。 |
| 定員 | 30名 ※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。 |
| 受講費 | 非会員: 49,500円 (本体:45,000円) 会員: 46,200円 (本体:42,000円) |
CMP装置技術の実践知見
≪200mm→300mm時代の装置進化・トラブル解決・ハイブリッド接合最前線≫
【提携セミナー】
主催:株式会社R&D支援センター
◆セミナー趣旨
CMP(化学機械研磨)は、微細化と多層配線化を支える平坦化技術として量産に定着し、近年はハイブリッド接合をはじめとする先端パッケージの接合品質を左右する基盤技術として、その重要性を一段と増しています。一方でCMP装置は、消耗品・回転体・薬液供給が絡む複雑な装置であり、「装置は正常なのにレートがおかしい」といった、カタログや仕様書には載らないトラブルが現場では頻発します。
本セミナーでは、DRAM製造現場で20年(うちCMP15年)にわたり装置を運用してきた講師が、200mm→300mm時代の装置進化の要点、パッド・スラリー・終点検知などコア技術の管理手法、実例に基づくトラブルシューティングの「型」、そしてCMP後洗浄の設計と実務までを一気通貫で解説します。さらに、CMPが品質を決めるハイブリッド接合(ボンディング)の最前線と関連装置を概説し、装置技術の知見が今後どこで活きるのかを示します。過剰な表現を避け、データと実機事例に基づいた「現場で使える」知見の共有を目指します。
◆習得できる知識
◎200mm/300mm時代のCMP装置構成の違いと技術進化を説明できる
◎パッド・スラリー・終点検知(EPD)の管理手法と実務トラブル対策を習得できる
◎CMP後洗浄の設計思想と、パーティクル・Cu腐食防止の実務対策を習得できる
◎フュージョン/ハイブリッド接合の種類・プロセスと関連装置構成の概要を理解できる
◎「装置は正常なのにレートが変」など、カタログに載らないトラブル切り分けの考え方が身につく
◆受講対象
◎半導体デバイス・装置・材料(スラリー/パッド/薬液/部材)メーカーで、CMP関連業務に携わる新人~中堅技術者の方
◎CMP装置の運用・保全・プロセス開発をご担当の方
◎ハイブリッド接合など先端パッケージとCMPの関わりを知りたい方
◎大学・研究機関で平坦化・接合技術を研究されている方
◆必要な前提知識
特に予備知識は必要ありません。基礎から解説いたします。
(半導体前工程の流れを概略でもご存知ですと、より理解が深まります)
担当講師
ETSC Consulting 代表
奥山 林明氏
【ご専門】
半導体前工程の装置技術(CMP・WET洗浄・Cuめっき・アッシャー)
【ご経歴等】
2005年 エルピーダメモリ(株)入社。DRAM製造の設備技術者として、WET洗浄・Cuめっき・CMP装置を担当。
2015年 マイクロンによる買収に伴いマイクロンメモリジャパン(株)へ。WET/CMP主任設備エンジニアとして装置の管理・最適化・シフト運用に従事。消耗品ローカル化によるコスト削減(年約20%)、Cuボイド改善などの実績。
2025年9月 ETSC Consulting を設立し独立。半導体設備(WET/CMP/Cuめっき/アッシャー)の業務改善・コスト削減・技術支援、技術セミナー講師として活動中。
DRAM製造現場 通算20年(Cuめっき/WET洗浄 各20年・アッシャー18年・CMP15年)。
セミナープログラム(予定)
1.CMP工程の基礎と200mm→300mm装置進化
1-1.CMPとは ― 目的と研磨機構
1-2.200mm時代のCMP(概要)
1-3.装置の世代ロードマップと200mm装置(研磨部・インライン洗浄のセル構成)
1-4.200mm→300mm装置の比較と進化の鍵(ヘッド多ゾーン化・搬送/生産性)
1-5.300mm装置の構成(研磨部・後処理部・リアルタイムプロファイル制御)
1-6.大口径化がもたらした技術課題とまとめ
2.CMP成立のコア技術(パッド・スラリー・終点検知)
2-1.CMPの第一原理(Prestonの式と面内不均一)
2-2.研磨パッド(種類・溝形状・ドレッサ・寿命の見極め)
2-3.スラリー(膜種別の設計・選定ロジック、砥粒選定・沈殿対策)
2-4.研磨ヘッド(メンブレン・リテーナリングと圧力分布)
2-5.終点検知EPD(膜種別の検出原理と波形の読み方)
3.CMPトラブルシューティング実践(事例中心)
3-1.トラブル対応の進め方(現象→切り分け→根本原因→対策→水平展開)
3-2.装置起因トラブル事例(研磨ユニット系/搬送系/洗浄・乾燥系/薬液供給系)
3-3.レート監視と規格管理
3-4.スクラッチ ― 形と分布から真因を絞る
3-5.改善事例:Cuボイド低減と知見の水平展開
4.CMP後洗浄の設計と実務
4-1.後洗浄の設計思想と方式比較(ブラシ・メガソニック・乾燥)
4-2.後洗浄薬液のchemistry(pHとゼータ電位)
4-3.パーティクル対策とCu腐食防止の両立
4-4.乾燥とウォーターマーク
5.ボンディング技術の概要と関連装置
5-1.なぜ接合が必要になったのか ― CMPが決める接合品質
5-2.接合方式の種類(W2W/D2W、フュージョン/ハイブリッド)
5-3.関連装置(エッジトリム・アライメント・バックグラインド)
5-4.ハイブリッド接合プロセスの流れと接合装置
5-5.接合の検証とピッチ微細化ロードマップ・最新動向
6.まとめ・質疑応答
公開セミナーの次回開催予定
開催日
【LIVE配信】2026/9/9(水) 13:00~16:00
【アーカイブ配信】9/10(木)~9/24(木)
開催場所
【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。
受講料
非会員: 49,500円 (本体価格:45,000円)
会員: 46,200円 (本体価格:42,000円)
会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で49,500円(税込)から
- 1名で申込の場合、46,200円(税込)へ割引になります。
- 2名以上同時申込の場合、1名につき半額の24,750円(税込)に割引になります。
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