ウェットエッチングの基礎と形状コントロール及びトラブル対策とノウハウ【提携セミナー】
開催日時 | 2025/10/3(金) 10:30~16:30 |
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担当講師 | 河合 晃 氏 |
開催場所 | 【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。 |
定員 | 30名 ※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。 |
受講費 | 非会員: 55,000円 (本体価格:50,000円) 会員: 49,500円 (本体価格:45,000円) |
ウェットエッチングの基礎と形状コントロール
及びトラブル対策とノウハウ
セミナー修了後、受講者のみご覧いただける1週間限定のアーカイブ配信をいたします。
【提携セミナー】
主催:株式会社R&D支援センター
ウェットエッチングは工業的にも歴史が古く、半導体デバイス、高周波プリント基板、液晶デバイスなど、さまざまな先端分野において主力の加工技術となっています。ウェットエッチングは量産性、コスト性、設備の簡易さに優れているほか、エッチングと同時にウェット洗浄を行える特長を有しています。近年では、ウェットエッチングによるアンダーカット形状の高精度化が求められています。本セミナーでは、ウェットエッチングの基礎メカニズムに重点を置きながら、高精度化やトラブル対策について解説します。さらに、表面エネルギー解析や応力・歪み解析による界面設計についても取り上げます。日頃の技術開発やトラブル相談にも個別に対応いたします。
◆ 習得できる知識
- ウェットエッチングの基礎メカニズム
- コントロール要因
- 形状制御技術
◆ 受講対象・レベル
ウェットエッチング業務に携わる方、ならびに電子デバイス、プリント基板、薬剤、装置関連企業の技術者の方々
◆必要な予備知識
- 化学・物理の基礎知識
◆ キーワード
ウェット,エッチング,,プリント基板,半導体,オンライン,WEBセミナー
担当講師
アドヒージョン(株) 代表取締役社長 博士(工学) 河合 晃 氏
http://www.adhesion.co.jp
国立大学法人 長岡技術科学大学 名誉教授
【略歴】
三菱電機(株)ULSI研究所にて10年間勤務し、電子デバイス開発・試作・量産移管・歩留り・工場管理の業務に従事し、半導体デバイスの高精度な微細加工、ウェット/ドライエッチング、コーティングおよび表面処理技術開発に従事した。その後、長岡技術科学大学にて勤務し、エッチング技術、機能性薄膜、表面界面制御、ナノデバイスなどの先端分野の研究を実施している。各種論文査読委員、NEDO技術委員、国および公的プロジェクト審査員などを歴任。現在、長岡技術科学大学 名誉教授、ならびに、技術コンサルティング会社として、アドヒージョン(株)代表取締役社長を務める。著書40件、原著論文166報、国際学会124件、国内学会212件、特許多数、受賞多数、講演会270回以上、日本接着学会評議員、応用物理学会会員、産学連携・技術コンサルティング実績350件以上。
セミナープログラム(予定)
1.ウェットエッチングの基礎
1-1 加工技術としての位置づけ
1-1-1 産業応用(半導体、液晶、プリント基板、5G応用、ゲノム)
1-1-2 設計値とシフト量(アンダーカット)
1-2 基本プロセスフロー(前処理、マスク作製、エッチング、マスク除去)
1-3 プロセス支配要因(濡れ、律速、反応速度)
1-4 エッチング機構
1-4-1 超純水(機能水、帯電防止、酸化防止、水素水)
1-4-2 エッチング液(被加工膜対応、界面活性剤)
1-4-3 電位-pH図(プールベイ図)
1-4-2 等方性エッチング(エッチファクター、Si、Cu、Al)
1-4-3 結晶異方性エッチング(結晶方位依存性、Si単結晶)
1-5 エッチングマスク
1-5-1 マスク剤の選定(レジスト膜、無機膜)
1-5-2 マスク剤の最適化(マスク形成と高精度化)
1-5-3 マスクの形状劣化(熱だれ、転写特性)
1-5-4 マスク内の応力分布と付着強度(応力集中と緩和理論)
1-5-5 エッチング液の浸透(CLSM解析)
1-6 被加工表面の最適化(表面被膜、汚染、欠陥の影響)
1-6-1 被加工膜の材質依存性(不働態膜、WBL、CH系汚染)
1-6-2 表面汚染(大気中酸化、液中酸化)
1-6-3 表面前処理(疎水化および親水化)
1-7 処理装置
1-7-1 液循環
1-7-2 ディップ
1-7-3 シャワー
1-7-4 スピンエッチ
1-7-5 フィルタリング
2.アンダーカット形状の最適化
2-1 支配要因
2-1-1 界面濡れ性
2-2-2 応力集中
2-2-3 液循環
2-2-4 マスク耐性
2-2 形状コントロール(エッチングラインの高精度化)
2-3 高精度形状計測
2-3-1 断面SEM
2-3-2 定在波法
2-3-3 光干渉法
2-3-4 X線CT
3.トラブル要因と解決方法(最短の解決のために)
3-1 マスクパターンの剥離メカニズム
3-1-1 付着・ぬれエネルギーWa(ドライ中)
3-1-2 拡張・浸透エネルギーS(ウェット中)
3-1-3 円モデル
3-2 エッチング液の濡れ不良(ピンニング不良)
3-3 エッチング開始点の遅れ(コンタクトラインのVF変形)
3-4 ホールパターンの気泡詰まり(界面活性剤)
3-5 エッチング表面の荒れ(気泡、異物)
3-6 金属汚染(RCA洗浄)
3-7 レジスト除去
3-7-1 ウェット方式
3-7-2 ドライ方式
3-7-3 物理除去
3.8 再付着防止
3-8-1 DLVO理論
3-8-2 ゼータ電位
3.9 乾燥痕
3-9-1 マランゴニー対流
3-9-2 IPA蒸気乾燥
4.環境対策
4-1 廃液処理
4-2 排ガス・ミスト処理
5.質疑応答
(日頃の技術開発およびトラブル相談に個別に応じます)
参考資料
- 表面エネルギーによる濡れ・付着性解析(測定方法)
公開セミナーの次回開催予定
開催日
2025年10月03日(金) 10:30~16:30
開催場所
【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。
受講料
非会員: 55,000円 (本体価格:50,000円)
会員: 49,500円 (本体価格:45,000円)
会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で55,000円(税込)から
★1名で申込の場合、49,500円(税込)へ割引になります。
★2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計55,000円(2人目無料)です。
★3名以上同時申込は1名につき27,500円(税込)です。
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