分析技術による異物問題への対処法とノウハウ

≪迅速な原因解明のために、今からできること≫

【提携セミナー】

主催：サイエンス＆テクノロジー株式会社

＊講座内容（全3部）
第1部：異物問題の現状および検出・サンプリング方法のノウハウ
第2部：異物分析～FT-IR分析とその他分析法の組み合わせ～
第3部：迅速な原因解明のために、今からできる事

迅速な原因究明を行うために
異物混入はどの製造現場においても起こりうることであり、異物混入による企業へのダメージは年々深刻化していますが、一方で、異物混入をゼロにすることは困難です。そのため、異物混入時に迅速な原因究明を行うことがなによりも重要です。

本講座では、迅速な原因究明を行うためのスキルを身に付けられるように、異物混入の現状から、異物検出・サンプリング方法、異物分析手法、ノウハウなどを、数多くの経験を持つ講師が体系的に解説します。これから分析に携わる方、一から学び直したい方にとって、おすすめの講座となっています。

【講師からのメッセージ】
講師は、1992年住化分析センター入社後、異物分析に必要な設備導入・ラボ整備から、事業立ち上げまで携わり、その後、各種材料のマイクロアナリシス、製造工程管理分析（設備洗浄確認試験）、次世代蓄電池材料評価技術開発（NEDO）さらには放射光による分析技術開発等を行ってきました。しかしながら、いずれの業務でも分析試料中の混入異物による問題に対して何らかの形で繋がっていたのが実情です。

本講座にて、これまでの業務経験を通じて、様々な角度から異物問題の現状と対応策について解説する事で、聴講者の皆様のお役に立つ事が出来れば幸いです。

セミナー趣旨

セミナー講演内容
■第１部：異物問題の現状および検出・サンプリングのノウハウ
様々な製品で混入異物によるトラブルが発生しています。衛生環境の向上は、異物問題を抑制しますが、花粉症や一部の食物アレルギーに代表されるように、私たちはそれまで気付かなかった異物にまで反応しはじめました。異物ゼロ化は企業にとって難しい課題ですが、具体的にどの様な異物が混入しやすいのでしょうか。混入した異物を検出し、分析するために必要なサンプリングについても解説します。

■第２部：異物分析～FT-IR分析とその他分析法の組み合わせ～
検出された異物を分析し、迅速な原因究明に繋げるためには、異物の大きさや性状にマッチする分析法の適用が肝心です。最も汎用されるFT-IR分析を中心に、各手法で分かる事・分からない事に対する理解を深め、分析担当者としてのスキルアップをはかります。

■第３部：迅速な原因解明のために、今からできる事
混入異物分析は、結果からスピーディに原因究明へと辿り着くことが大事です。異物トラブルによる企業へのダメージが深刻化する中、これからは混入トラブルを最小限に抑えるため事前の分析的支援に重点を置く必要があります。では、具体的に何をすれば良いのか、について解説します。

＊得られる知識

• 異物とは何か
• 担当者としての実践的な心得
• 異物の検出方法
• 異物のサンプリング方法
• 異物の分析手法の原理と特徴～FT-IR、SEM、XPD、熱分解GCMSなど～
• 今からできる異物混入、交叉汚染対策　など

担当講師

末広 省吾　氏

(株)住化分析センター 大阪事業所 主幹部員　≫講師紹介

セミナープログラム（予定）

■第１部：異物問題の現状および検出・サンプリングのノウハウ
◆講演項目
1. 異物問題の現状
(1) 異物とは何か
(2) 事故拡大を防止するために～担当者の心得
(3) 人体からの発塵
(4) 繊維状（糸状）異物
(5) 昆虫
(6) カビ

2. 異物の検出
(1) 異物の発見と原因解明までのフロー
(2) 異物の検出方法
(3) 異物分析の前に～情報収集

3. 異物のサンプリング
(1) 溶液中微小異物の捕集
(2) マイクロマニピュレータシステム
(3) ミクロトームによる試料の切片作製・面出し

■第２部：異物分析～FT-IR分析とその他分析法の組み合わせ～
◆講演項目
1. 分析法の概要

2. FT-IR分析の基礎
(1) 装置構成・測定フロー
(2) 適切な結果を得るために
(3) スペクトルの読み方

3. その他代表的手法
(1) 走査電子顕微鏡（SEM）
(2) 電子線マイクロアナライザ（EPMA）
(3) X線回折（XRD）
(4) ラマン分光法
(5) 熱分解GC-MS
(6) 顕微赤外イメージング、その他

4. まとめ（各分析法において分かる事＆分からない事）

■第３部：迅速な原因解明のために、今からできる事
◆講演項目
1. 迅速な原因解明のために
同定から個別化へ向けた、分析手法の活用（形態的、元素的、熱物性的な違いからの識別）

2. 今からできる対策
(1) 迅速に参照物質を提供・比較分析するには？
(2) 分析結果（測定スペクトル）による個別化精度を上げるには？
(3) 製造環境から混入した異物の同定精度を上げるには？
(4) 交叉汚染対策

3. まとめ

公開セミナーの次回開催予定

開催日

【アーカイブ受講】 2022/9/7（水）配信予定（視聴期間：配信後10営業日間） ／視聴時間：4.5時間を予定

開催場所

【アーカイブ受講】 Webセミナー(会社・自宅にいながら受講可能)

受講料

一般受講：本体45,000円＋税4,500円
E-Mail案内登録価格：本体42,700円＋税4,270円

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2名で49,500円 (2名ともE-Mail案内登録必須／１名あたり定価半額24,750円)

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定価：本体36,000円＋税3,600円
E-Mail案内登録価格：本体34,200円＋税3,420円

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